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寄生电感是影响功率管开关特性的重要因素之一,开关频率越高,寄生电感对低压增强型氮化镓高电子迁移率晶体管(GaN HEMT)的开关行为影响越深,使其无法发挥高速开关的性能优势。通过建立数学模型,理论分析了考虑各部分寄生电感后增强型GaN HEMT的开关过程,并推导了各阶段的持续时间和影响因素,然后通过建立双脉冲测试平台,对各部分寄生电感对开关特性的具体影响进行了实验验证。实验结果表明,寄生电感会使开关过程中的电流、电压出现振荡,影响开关速度和可靠性,并且各部分寄生电感对增强型GaN HEMT的开关过程影响程度不同,在实际PCB布局受到物理限制时,需要根据设计目标优化布局,合理分配各部分寄生电感以获得最优的开关性能。 相似文献
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便携式电子应用设备常常要求它的系统电压,介于电池充分充电的电压和未充分放电的电压范围之间。比如,对于锂离子电池,当输入为2.8伏到4.2伏时,输出为3.3伏。达到这种要求最佳的解决方法就是高效率、同相的四开关拓扑结构的降压/升压DC-DC转换器,这种方法利用一种控制方案,它可以实现降压、降压/升压、升压三种模式自动并且平稳地转换。经HSPICE仿真,采用Hynix0.5um 5VCMOS工艺,在输入电压2.5~5.5V、输出电压3.3V、频率1MHz时,效率高达95%以上。是输出电压处于电池电压范围内的单节锂离子电池、多节碱性电池或NiMH电池应用的理想选择,解决了在便携式电子设备电源设计过程中所遇到的问题。 相似文献
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对新型常通型GaN HEMT器件的特性和参数进行了研究。阐述了其静态特性、动态特性及电流崩塌问题。针对其动态特性,与相近规格的Si MOSFET器件(TK2Q60D)在开通、关断时间与栅源电压的关系方面进行了对比,探讨了常通型GaN HEMT器件在不同输入电压和不同开关频率下的电流崩塌现象,并采用Boost电路,对常通型GaN HEMT器件和Si MOSFET器件的最高工作频率能力进行了对比。实验结果表明,常通型GaN HEMT器件具有更高的工作频率,且工作频率的升高不影响电流崩塌现象。 相似文献
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