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介绍了PCB自动光学检测系统中的自动调焦和调整倍率的方法。该方法在无法精确测量物像距的情况下,根据获取标准测量目标的图像信息,通过分析计算,自动调整成像系统的物像距,获得清晰的图像及要求的倍率。通过在设备上的运行,此方法调焦精准,调出的倍率符合要求,自动化程度很高,能够满足整机系统的要求。 相似文献
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分析了基于计算机平台的电子专用设备软件的研发现状和面临的问题,通过对当今主流软件开发流程特点的研究,提出了一种适合电子专用设备软件研发具体特点要求,以螺旋模型为基础的软件开发流程。详细叙述了流程中的各阶段、要求的软件文档和相关活动。从提高电子工业专用设备软件的研发可控性、可维护性和软件产品的质量等角度对该流程进行了探讨。 相似文献
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介绍了一种改进的中轴变换算法。该算法修正了现存算法的缺点,可以快速去除二值图像中的冗余信息,准确抽取图像的单像素骨架,保留基本特征,特别是斜线和圆形焊盘特征。大量实验表明,该方法降低图像的复杂度,仅保留图像形状的拓扑信息,为后续处理提供理想的图像,提高整个系统的性能。 相似文献
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基于超声扫描显微镜的特殊应用需求,设计了一种分离式超声波发射接收系统,并介绍了其主要的硬件电路设计和软件设计,通过该系统在超声扫描显微镜上的应用验证了其性能。系统可有效减少线缆反射,将信号衰减降至最低,同时减少噪声和干扰信号拾取,从而得到一个低畸变、更强、更干净的超声波信号。 相似文献
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对插件式的软件框架模型进行了研究,提出了适用于设备专用软件的"平台+插件"框架模型,描述了该模型的结构、调用过程和实现方式.从有利于设计出高度模块化、可定制、有系列化功能扩展、软件并行开发以及快速集成等方面探讨了该模型的优势. 相似文献
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介绍了测量系统中双频激光干涉仪的测量原理。针对测量系统精度要求高的特点,深入分析了环境及安装因素对测量结果的影响,尤其是激光波长、镜面面形、数据延迟、反射镜安装非正交等4种干涉仪非结构性误差,研究各种误差对测量结果的影响,并给出相应的误差补偿方法。结果表明,这些补偿方法有效地消除了环境及安装误差对整个测量系统的影响。 相似文献
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为了准确地检测芯片的表面缺陷,提出了一种基于反向传播神经网络(BPNN)的检测算法。首先,中值滤波方法被用于滤除芯片表面图像的噪声;然后,提取芯片表面缺陷的Hu不变矩特征和局部二值模式(LBP)特征,并采用核主成分分析(KPCA)算法降维级联后的特征;最后,离线学习芯片表面正常模式和各种缺陷模式的BPNN模型。在线检测时使用BPNN判断芯片是否存在表面缺陷,使用最近邻(Nearest Neighbor, NN)算法具体分类缺陷的模式。提出算法在芯片表面图像数据库中的检测准确率为88.41%,可以应用于芯片生产线中的表面缺陷检测。 相似文献
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针对超声扫描显微镜在扫描过程中所采用几种不同的扫描路径加以描述,并分析其各自的特点及带来的效果。 相似文献
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