三元系Hg_(0.8)Cd_(0.2)Te和Pb_(0.8)Sn_(0.2)Te单晶缺陷的X射线衍射貌相检验

一、引 言 三元系Hg(0.8)Cd(0.2)Te和Pb(0.8)Sn(0.2)Te单晶是重要的大气透射“窗口“红外探测器材料.Pb1-xSnxTe又是可调红外激光器的重要材料.与锗、硅及二元化合物(或固溶体)相比,该三元化合物在长晶过程中,组分分凝严重,结构完整性差。难以制得结构完整、组分均匀的大单晶. Hg(0.8)Cd(0.2)Te中常见的缺陷是:沉淀相、组分偏析、位错、滑移带、亚晶界、大角晶界、孪晶、晶面弯曲、多边形化的亚结构、高度应变区等.用X射线衍射貌相术研究这类缺陷,除非破坏性外,还有对晶格畸变高灵敏度等优点[1]。L.N.Swink和M.J.Bran[2]曾用劳厄背…     

碲化铅材料及其沉积膜的性质

本文介绍碲化铅薄膜的光学性质和沉积工艺及其与原材料特性的关系。从给出的实验结果可以看出,碲化铅原材料的配比和制备方法对光学薄膜的光学特性有着决定性的作用。为了得到薄膜的最佳沉积工艺条件,本文给出了检验碲化铅材料性质的简便方法。     

真空沉积PbTe薄膜的结构检测

真空度为3×10~(-5)Torr,PbTe源温度为850℃,在Si(111)晶片衬底上沉积PbTe薄膜。膜的光学厚度大约是20μm。我们对薄膜进行了X射线衍射分析,寻找不同生长条件下膜的晶态规律,并与其光学特性相对照。用X射线衍射仪,Cuk_α辐射,从20～95℃记录了薄膜的衍射谱。根据谱图分析,薄膜的结构可分为三类:1.高度取向[010]有织构的近单晶结构;2.杂乱取向的多晶结构;3.择     

化学腐蚀对锑化铟表面的影响

测量与分析表明,锑化铟晶片的表面状况与化学腐蚀密切相关,起因于腐蚀液对表面的择优腐蚀及氧化。讨论了制备高性能器件的合理腐蚀步骤。     

Hg1—xCdxTe多层薄膜材料结构缺陷的透射电子显微镜测定

用透射电镜对Ｈｇ１－ｘＣｄＴｅ／ＣｄＴｅ和ＣｄＴｅ／ＧａＡｓ两种异质结的横截面进行了观测分析，对异质结附近的某些结构缺陷，如微孪晶的尺寸，几何形态、层错、界面失配位错的组态特征进行了研究，并对多层膜之间的取向差进行了分析，说明在ＧａＡｓ衬底上用分子束外延法制备的Ｈｇ１－ｘＣｄｘＴｅ／ＣｄＴｅ／ＧａＡｓ多层膜，就大量结构缺陷而言，ＣｄＴｅ缓冲层对Ｈｇ１－ｘＣｄｘＴｅ外延层起到了屏障作用，在Ｈｇ１－ｘ     

Cd_(1-x)Zn_xTe和Cd_(1-y)Hg_yTe系的品格匹配

由于ZnTe具有比CdTe位错密度低,缺陷浓度低,机械强度高等优点,尤其是通过调节zn的含量,可使Cd_(1-x)Zn_xTe晶格常数与各种组份的Cd_(1-y)Hg_yTe的晶格常数相匹配。因此普遍认为Cd_(1-x)Zn_xTe是代替CdTe作为Cd_(1-y)Hg_yTe晶体液相外延衬底的一种较希有     

Cd_(1-x)Zn_xTe和Cd_(1-y)Hg_yTe系的晶格常数的测定

本文给出含Zn量0.00≤x≤0.10的Cd_(1-x)Zn_xTe晶体晶格常数对组分x的变化曲线,并与三元系 Cd_(1-y)Hg_yTe晶体晶格常数进行比较.分别计算了 Cd_(0.094)Zn_(0.036)Te-Cd_(0.2)Hg_(0.3)Te和CdTe-Cd_(0.2)Hg_(0.3)Te双晶系的晶格失配度,讨论了其晶格匹配.