利用I-Z曲线的STM"接触"模式的电学测量和表面改性研究

利用STM对金属有机络合物电双稳材料Ag—TCNQ薄膜进行电学性质的表征与改性，在针尖强电场的作用下，当电压达到某一阈值后薄膜从高阻态跃迁至低阻态，这两种高低阻态分别定义为一个存储单元的“0”与“1”状态。本文考虑到在STM的常规恒流工作模式下，针尖与样品之间的隧道结对于电学性质的表征与改性具有影响。为此测量隧道电流I对隧道结宽度Z的依赖关系，I-Z曲线，从而确定针尖刚好接触样品的接触点，利用STM进行了针尖与样品“接触式”的电学测量和表面电学改性研究，并与常规工作模式进行了比较。     

利用STM构建金属有机材料的纳米结构和改变电学性质

研究和开发利用扫描隧道显微镜(STM)对材料进行纳米尺度加工的功能，藉助于STM针尖和样品之间的强电场在金属有机络合物Ag-TCNQ薄膜表面构建了纳米点、纳米点阵和纳米线等纳米结构。伏安(I-U)特性曲线和扫描隧道的测试表明，在针尖强场作用后材料表面的局域电子态密度迅速增大，在电学上由高阻态转变为低阻态，这种效应可能归因于金属原子和有机分子之间的电荷转移。这些纳米结构展示了用作高密度存储器和纳米导线的可能性，有机导电材料将是未来纳米电子材料的理想候选者，而STM则将成为纳米电子学微细加工的有力工具。     

纳米结构Ag-TCNQ电双稳薄膜的制备及分析

采用真空蒸发和大气环境下后热处理的方法制备了纳米量级颗粒均匀的Ag-TCNQ薄膜。通过可见光范围透射谱、x射线衍射、原子力显微镜、傅里叶红外光谱以及x光电子谱等分析研究了薄膜的物理和化学性质，发现热处理可促使Ag和TCNQ发生充分的络合反应并减小薄膜的颗粒度，在此基础上利用STM实现了局城电双稳态的转变和纳米存储点的写入。     

纳米铜薄膜氧化反应动力学规律研究

研究了140 ℃下纳米尺度Cu薄膜的氧化行为. 采用真空蒸发法以不同沉积速率制备一系列Cu薄膜, 利用原子力显微镜(AFM)观察其微观形貌, 选取形貌良好的Cu薄膜样品. 采用方块电阻和透射光谱两种方法为表征手段, 测量16～22 nm范围内不同厚度Cu薄膜在140 ℃下完全氧化所需要的时间, 得到了Cu薄膜氧化反应的动力学曲线, 并利用X射线衍射(XRD)分析了氧化产物的晶相结构和成分. 结果表明, 纳米尺度下Cu薄膜在140 ℃下氧化反应的动力学表征结果满足特殊的反对数生长规律, 反应产物为Cu₂O.     

用于HREM分析的位错结构模型

本文推荐建立一种用于高分辨电子显微术（HREM）分析的位错结构模型，希望对该问题的解决有所帮助。     

基于STM的有机电双稳材料电学性质的表征与改性

利用STM对金属有机络合物电双稳材料Ag-TCNQ的薄膜进行电学性质的表征与改性,在针尖强电场的作用下,当电压达到某一阈值后薄膜从高阻态跃迁至低阻态,这两种高低阻态可分别定义为一个存储单元的"0"与"1"状态.在STM的常规工作模式下,测量了薄膜的电学性质的变化;考虑到在STM的常规恒流工作模式下,针尖与样品之间的隧道结是影响电学性质的表征与改性的一个不可避免的重要因素,而它并不是材料本身的属性,为此利用STM进行了针尖与样品"接触式"的测试与分析,并且与常规工作模式进行了比较.     

方块电阻法原位表征Cu薄膜氧化反应动力学规律

提出并建立了一种基于方块电阻测量的原位表征Cu薄膜氧化反应动力学规律的方法.利用Cu薄膜方块电阻随氧化时间的变化情况，得到氧化产物厚度与氧化时间的关系，反应动力学表征结果符合抛物线规律.还利用不同的氧化反应温度条件和对应的抛物线常数之间的关系得到体系的扩散激活能.结果表明，提出的表征方法适用于Cu薄膜氧化反应体系.     

EFFECT OF CRYSTALLINITY ON POLARIZATION FATIGUE OF FERROELECTRIC P(VDF-TrFE) COPOLYMER FILMS

The dependence of polarization fatigue on crystallinity of vinylidene fluoride and trifluoroethylene copolymer films was studied.Experimental data indicated that the higher the crystallinity of the film was,the slower the fatigue rate of the film became.A possible explanation was put forward,and it was regarded that the space charges,trapped at the boundaries of crystallites and/or captured by the defects lying both in amorphous and crystalline phases,should make the major contribution to polarization fa...     

Fabrication of grating-like polystyrene latex monolayer structure as three-dimensional calibration standards for scanning probe microscope

This paper illuminates the preparation of grating-like polystyrene latex monolayer structure, which can minimize the effects of the size deviation of spheres and the defect transfer on the accuracy as calibration samples for microscopes. The latex films are grown on freshly cleaved mica substrates by vertical deposition method. The concentration dependence of the structure and the topography of latex films is characterized by optical microscope, ultraviolet--visible transmission spectrum and scanning probe microscope. The origination of such a grating-like structure is also discussed.     

基于STM的有机电双稳材料电学性质的表征与改性

利用STM对金属有机络合物电双稳材料Ag-TCNQ的薄膜进行电学性质的表征与改性,在针尖强电场的作用下,当电压达到某一阈值后薄膜从高阻态跃迁至低阻态,这两种高低阻态可分别定义为一个存储单元的"0"与"1"状态.在STM的常规工作模式下,测量了薄膜的电学性质的变化;考虑到在STM的常规恒流工作模式下,针尖与样品之间的隧道结是影响电学性质的表征与改性的一个不可避免的重要因素,而它并不是材料本身的属性,为此利用STM进行了针尖与样品"接触式"的测试与分析,并且与常规工作模式进行了比较.