Localization correction to the anomalous Hall effect in amorphous CoFeB thin films

An obvious weak localization correction to anomalous Hall conductance(AHC) in very thin CoFeB film is reported.We find that both the weak localization to AHC and the mechanism of the anomalous Hall effect are related to the CoFeB thickness.When the film is thicker than 3 nm,the side jump mechanism dominates and the weak locaUzation to AHC vanishes.For very thin CoFeB films,both the side jump and skew scattering mechanisms contribute to the anomalous Hall effect,and the weak localization correction to AHC is observed.     

基于ATmega16的数字光栅位移测量系统

光栅尺测量系统在当今测量系统中占有很大的比重,以其高精度、高稳定性广泛应用在精密仪器加工和数控机床上。目前市场上与光栅尺匹配的数显表很多,但是大部分体积偏大而且需要手动人工按键。利用单片机的外部时钟触发功能设计的测量系统,对光栅尺的位移信息进行采集和解析,从而实现对光栅尺的读数功能。首先介绍了系统所用的器件,在详细分析系统功能的基础上,进行了系统硬件设计和系统软件设计,并基于实际中存在的问题提出了解决方案。设计的光栅位移测量系统具有价格低廉、接口方便、工作稳定等优点,基本满足光栅尺的读数要求。     

基于AVR单片机的轮胎模具内径测量系统

文中所设计的基于AVR单片机的轮胎模具内径测量系统,采用光栅尺和激光测距仪测量模具内径,单片机通过接收上位机的命令控制步进电机改变测量点,同时控制光栅尺数显表进行数据采集实时返回给上位机。上位机将光栅尺数据和激光测距仪数据进行运算后得到模具的内径,测量精度在4μm以内。