中移动要断免费WAP的奶?

2005年11月14日，一纸文书让中国数以万计的WAP网站从业人员心惊不已。     

谁为废旧手机回收负责?

目前全世界约有7亿部手机．其中三分之一在中国．在我国手机的更换率约为413％．平均更换周期为3年．以此推算中国每年有6500万部手机退役． 这些退役的手机到哪里去了？ 要么是被在自己家里当摆设．要么是卖给市场上的二手手机贩子．还能有什么解决办法？二手手机让中国不少小商贩从中发了一笔真正的横财！中国每年退役的手机数量越来越多，但中国何时才有一部针对二手手机回收的相关法律呢？[编者按]     

吸附树脂分离纯化枇杷花总黄酮的研究

比较了D-101、D-160、AB-8、NKA-9和聚酰胺等5种吸附树脂对枇杷花总黄酮的吸附及解吸附性能。在静态吸附和动态吸附实验基础上,筛选出效果较好的AB-8树脂进行动态吸附参数的研究。考察了样品液pH值、样品液浓度、洗脱液浓度、上样速度、洗脱速度等对AB-8树脂吸附和解吸效果的影响,确定了AB-8树脂动态吸附枇杷花总黄酮的最佳条件。获得的最佳纯化条件如下,样品液pH值为5.5,样品液浓度为12mg/mL,洗脱液为30%的乙醇水溶液,上样速度为2BV/h,洗脱速度为1BV/h。纯化后样品总黄酮含量达86.7%,比纯化前总黄酮含量高5~6倍。实验结果表明,AB-8树脂可用于分离纯化枇杷花总黄酮。     

电子元器件X射线检查缺陷自动识别方法研究

电子元器件的封装缺陷是影响其质量的主要因素之一。目前,国内电子元器件的X射线缺陷检查主要依赖人工识别,检测效率低,元器件检测质量难以有效保证,给元器件的使用带来风险与隐患,已无法满足电子系统日益增加的考核需求。本文首次提出电子元器件X射线检查的空洞类缺陷的自动识别方法,提高了对元器件封装缺陷的检测能力、检测效率和检测结果的可靠性。研究结果表明,本文提出的自动识别方法,对于空洞类缺陷的总体识别准确率优于98%。     

日系手机在华猝死之谜

中国手机市场,逆水行舟, 不进则退。 2005年12月9日,松下公司 宣布关闭其位于菲律宾和捷克的 两家手机制造工厂,以及美国手 机研发中心,今后将停产GSM手 机,并将裁员1400人。松下(中 国)公司公共关系部主管王舸对 外确认了这则消息,宣布其北京 的生产工厂将逐步停产GSM手机。 业内人士则指出,松下此举说明 其在2．5G市场竞争的不利局面,     

3G让我欢喜让我忧

中国3G这场筵席能磨蹭到今天,也算这个厨师有点本事了。各家食客都已经望眼欲穿了,还是不见真正的主菜上桌。所谓“3G在中国”的菜单展示会倒是已经开了两年,今年是第三年了。想必是厨师也知道,再不弄出点实质性的东西来,恐怕要众叛亲离群情激愤了。今年的“3G在中国”峰会,总算是多了一些实质性的内容,少了一些笼统概括的大方向言论。     

百味杂陈的2005

洋牌手机大获全胜 无论从市场占有率,还是用户满意度,洋品牌手机都是2005年里最大的赢家。 2005年,仅诺基亚就掌握了近两成的中国手机市场份额,紧随其后的是摩托罗拉和三星。尽管自国家发改委手机生产核 准制施行以来,截至第三季度,已有3批共13家企业获得核准,其中不乏实力雄厚的传统IT企业和家电企业,但这股新生力量在 市场上的表现并不突出。赛迪顾问预计,2005年国产品牌份额同比大幅下滑已成定局。 为什么让国产手机谈“黑”色变的黑手机没有冲击到洋品牌手机的市场份额呢?业内人士分析,“黑手机”主要泛滥区 域还是三,四级市场,对一级市场的影响并不大,由于强大的品牌优势,“黑手机”很难动摇诺基亚、摩托罗拉、三星等品 牌的市场基础。洋品牌将国产手机和“黑手机“挤到了中低端市场中去,最终导致国产手机与“黑手机”直接对垒。     

核壳结构AgInS2@ZnS量子点的合成及荧光性能

合成了一种新型核壳结构的AgInS₂@ZnS量子点并研究了其荧光性能. AgInS₂@ZnS的合成包括以变性牛血清白蛋白(dBSA)为稳定剂水相法构建AgInS₂核以及形成ZnS壳两部分. 考察了配方和工艺条件对该量子点荧光性能的影响, 并采用X射线粉末衍射(XRD)等手段对制备的纳米粒子进行了表征. 结果表明, AgInS₂@ZnS是一种核壳结构的纳米物质, 其粒径介于5~7 nm之间, 荧光量子产率达35.3%.     

基于DDS和PLL的高性能信号源设计

基于直接数字频率合成技术(DDS),采用FPGA实现对DDS芯片AD9910的控制,提出一种高性能信号发生器的实现方案。重点介绍了DDS基本原理、晶振的选型、抑制DDS的杂散的方法、系统的总体结构以及软件设计。此系统具有高频率、高分辨率、高精度的主要特点,且控制灵活方便,具有广阔的应用前景。     

约束含参分岔问题的分类

约束边界与分岔参数有关的约束分岔问题,称为约束含参分岔问题．通过引入适当的变换,将约束含参分岔问题转化为新变量的非约束分岔问题,推导出了约束含参分岔问题转迁集的一般形式,结果表明只有约束分岔集受约束含参的影响,其它转迁集与不含参约束分岔的转迁集相同．以含参约束树枝分岔为例分析了此类问题的分岔分类,讨论了约束含参对分岔分类的影响．