薄透镜厚度引起焦距测量误差的探究

从理想光具组的焦距公式出发,理论上分析了薄透镜厚度引起焦距测量的误差。采用物距像距法测定焦距,并与二次成像法测得的焦距比较,得出实验结论：采用物距像距法测量焦距,因薄透镜厚度引起的误差大小等于物距像距法测得的焦距与二次成像法测得的焦距之差;由于薄透镜的厚度越厚,折射越靠近光心,所测得的焦距值会偏小,因此对厚度引起的系统误差进行修正,得到修正后的焦距为fm＋Δf。     

白云石制备菱面片层纳米氧化镁

以白云石为原料通过二次酸浸、EDTA-氨水络合法制得纳米MgO晶体, 并采用XRD、FT-IR、SEM、TEM等手段对其进行了表征. 研究表明, EDTA/PEG分子具有结构导向作用, 使Mg(OH)2分子呈外延辐射状均匀生长. 550-650 ℃煅烧前驱体制得的MgO纳米微片生长均匀, 为立方晶系结构的单晶, 具有类似花瓣状的菱面微片结构, 其厚度约为10-20 nm, 最大面积可达1 μm2左右. 氧化镁晶体沿[100]方向取向生长, 并保留了前驱体的外延辐射状生长特性. 结合热力学及动力学等相关理论研究了氧化镁纳米微片的取向生长机理.