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用表面磁光克尔效应实验系统测量铁磁性薄膜的磁滞回线   总被引：1，自引：0，他引：1  
用自制的表面磁光克尔效应实验系统开发了研究性近代物理实验,测出铁磁性薄膜的磁滞回线,并求得克尔旋转角和克尔椭偏率.  相似文献   
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