多孔硅膜龟裂过程的显微荧光观察和分析

用Ｏｌｙｍｐｕｓ显微荧光照相系统对多孔硅膜的龟裂过程进行观测，讨论荧光特性和龟裂过程的关系以及龟裂引起的表观荧光横向不均匀性，为研究荧光机理提供了新信息。     

多孔硅膜微结构的透射电镜研究

用透射电镜观察到由Ｓｉ（ｌｌｌ）衬底生长的多孔硅膜具有双层结构和明显的不均匀微结构，初步探讨了荧光机理与微结构的关系。