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1.
用新型红外测温仪观察由钨丝电子发射引起的损耗
郭希铭
张岷
陆文强
曹柏林
《物理实验》
2006,26(12):8-11
在金属电子逸出功测定实验中,未考虑由钨丝电子发射引起的损耗,存在约-1.86%的系统误差.用新型红外测温仪可以观察到因上述损耗而出现的钨丝温度的变化,为修正该系统误差提供直接的观察依据.
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