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1.
在96MeV 16O离子轰击下,测量了16O+64Ni反应出射碎片(α直至O元素)的Wilczynski图和角分布,并提出DIC截面和反应时间等物理量;讨论了反应的DIC特征;看到了出射碎片α和Li主要来源于复合核蒸发的迹象.  相似文献   
2.
本文报道一种用于液氦温区离子注入的低温装置。利用它可以在T<10K的低温条件下进行离子注入,并就地进行1.7—300K的电阻测量。作为应用实例,给出了Al/Si多层膜低温离子束混合的实验结果。实验表明,装置的建立为研究亚稳或非晶材料的超导电性及其他低温性质,提供了一种有力的手段。  相似文献   
3.
本文研究了由花药诱导的72株小麦单倍体的减数分裂过程。阐述了减数分裂各期染色体的行为,特别是二价体和单价体在中期Ⅰ和中期Ⅱ的分布。根据单倍体花粉母细胞减数分裂染色体行为的特点,讨论了同源染色体间的交换、染色体向赤道面排列的机制和次级联会的原因等问题。  相似文献   
4.
35MeV/u 40 Ar+197 Au反应中热核的碎裂密度   总被引:1,自引:0,他引:1  
许多提取核反应过程中熵产生的方法只适用于高能核反应过程 ,而约化d的产额方法可以用于较低能量的重离子核反应中 .对于 3 5MeV/u40 Ar+ 197Au的核反应过程 ,利用这种方法所得的熵和约化带电粒子多重性提取的熵结果一致 .对于后角热核发射体系 ,实验提取的核温度为 ( 4.7± 1 .2 )MeV ,熵为S/A =2 .5± 0 .5,根据实验提取的熵和核温度可以确定其碎裂密度小于 0 .1 ρ0  相似文献   
5.
根据量子统计模型 (QSM )的计算分析 ,找到了一个提取核反应过程中熵产生的新的可观测量 .核反应过程中约化d的产额d/ (d t 3 He 4 He)和熵有单调的函数关系 ,并且和体系的碎裂密度 (ρ/ ρ0 )及体系的N/Z都无关 ,可以作为提取核反应过程中熵产生的一个观测量 .和目前已经有的其他方法相比 ,约化d产额这一提取熵方法可以用于较低能量的重离子核反应中 ,并且数据处理分析简单 .对于 35MeV/u4 0 Ar 197Au的核反应过程所提取的熵和利用约化带电粒子多重性提取的熵结果一致 .结合后角类靶热核发射体系实验提取的同位素核温度为 4 7±1 2MeV及S/A =2 5± 0 5 ,根据熵和核温度的关联关系 ,可以确定其Breakup密度接近但小于 0 1(ρ/ ρ0 )  相似文献   
6.
本文报道,在液氮温度下Si~ 离子注入对急冷Al-Si-Ge合金超导电性的影响。结果表明,经低温离子注入后的样品,存在一个T_c更高的超导转变。  相似文献   
7.
本文对72个当代花粉植株(H_1)花粉母细胞的染色体变异情况进行了研究,并探讨了其染色体的稳定性问题.根据染色体倍性情况,72个小麦花粉植株可分为:3X,6X,8X.6X-2(缺体)和混倍体等五类. 在72个花粉植株中,87.5%为单倍体和二倍体.这和文献[1]的结果十分相近.同时观察到二倍体的染色体构型稳定,因此,花药培养方法可直接应用于育种工作. 在获得的近10%的异倍体和非整倍体植株中,缺体、八倍体以及混倍体等植株有的结了种子.文中还讨论了这些异倍体和非整倍体的产生和利用问题,认为花药培养方法可能获得染色体发生变异的新类型.  相似文献   
8.
许多提取核反应过程中熵产生的方法只适用于高能核反应过程,而约化d的产额方法可以用于较低能量的重离子核反应中.对于35MeV/u 40Ar+197Au的核反应过程,利用这种方法所得的熵和约化带电粒子多重性提取的熵结果一致.对于后角热核发射体系,实验提取的核温度为(4.7±1.2)MeV,熵为S/A=2.5±0.5,根据实验提取的熵和核温度可以确定其碎裂密度小于0.1ρ0.  相似文献   
9.
基于晶体学结构,将化学键理论定量地应用到水合碳酸镁Mg5(CO3)4(OH)2·4H2O和MgOgO3·3H2O的结晶行为研究中,以此指导和控制实际晶体的生长行为.根据所选晶面的化学键数目和强度,可以计算出该晶面的垂直生长速率,从而方便地预测出Mg5(CO3)4(OH)2·4H2O和MMgO3·3H2O晶体的理想形貌.Mg5(CO3)4(OH)2·4H2O晶体表现出六方片状的结晶习性,MgCO3·3H2O则具有六方柱的理想形貌.在实验中,六方片状的Mg5(CO3)4(OH)2-114心O和MgO3·3H2O六方柱可以通过简单的液相反应获得,证明我们的理论计算与实验结果完全相符.目前研究结果表明,单晶生长可以通过热力学意义上调整组成原子或离子的成键方式获得本质上的改进,这一过程为我们从动力学角度优化实验策略提供了更广阔的空间.  相似文献   
10.
平面物体在曲面状态下扫描仪图像的校正实验   总被引:6,自引:5,他引:1  
平面物体在曲面状态下经扫描仪扫描后,其图像将发生复杂的畸变。提出了用椭圆柱面加平面模型来描述实际扭曲的情况。基于二元曲面模型的投影畸变和成像畸变数字校正理论,推导了具体的畸变校正公式,并给出了确定成像畸变系数的实用方法。实验结果表明,经校正后投影畸变能够从最大的56%降低到2 5%;成像畸变能够从最大的8 4%降低到0 3%;投影畸变和成像畸变的组合畸变能够从最大的70%降低到3 1%。图像灰度直方图标准偏差的误差可从491%降低到6 5%。  相似文献   
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