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镀金层识别及其厚度测定的X—荧光强度比值法 总被引:3,自引:0,他引:3
利用Au原子在X射线激发下所发射的Lβ线和M线的强度比值识别样品是镀金还是K金,同时利用这个比值测定镀金层的厚度,镀金层厚度的测定范围为0~4μm,测定值与标定值的相对误差小于15%。 相似文献
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黄金饰品中金含量的X-荧光能谱分析 总被引:4,自引:0,他引:4
应用X-荧光能谱分析(ED-XRF)和新的定量分析软件测定了26个黄金标样,研究了饰品形状的影响,不同方法,不同实验室测试结果的比对,表明在所选的工作条件下样品形状无明显影响。方法可靠、快速、简便,非破坏性,适于常规、批量分析。Au含量≥99%时,分析误差≤0.15%,精密度≤0.1%;金含量90%~99%时,分析误差和精密度≤0.2%;金含量75%~90%和<75%时,分析误差分别≤0.4%和0.5%,精密度均≤0.2%;Ag、Cu和Zn的分析误差均≤0.5%,精密度≤0.2%。少标样基本参数法和多标样回归法的结果一致,在实用上有重要意义,十分有利于ED-XRF的推广应用。 相似文献
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粉末压片-X射线荧光光谱法测定矿石中钨、锡 总被引:1,自引:0,他引:1
将样品与微晶纤维素混匀后置于模具中,以32 MPa压力制成外径40 mm、内径32 mm的样片。用X射线荧光光谱法测定矿石中钨和锡的含量。钨、锡的检出限为4.9,3.8 mg·kg-1。方法用于矿石样品分析,钨和锡的测定值相对标准偏差(n=6)分别为1.7%,0.37%。测定值与国家标准方法测定值相一致。 相似文献
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高能偏振能量色散X射线荧光光谱仪测定地质样品中稀土元素 总被引:3,自引:0,他引:3
由于稀土元素本身的特点及以往X射线荧光光谱仪的局限性,用XRF方法快速测定地质样品中稀土元素一直是个难点。探讨了有效解决该问题的途径。采用粉末压片制样,应用Epsilon 5型高能偏振X射线荧光光谱仪(HE-P-EDXRF)建立了土壤、岩石和水系沉积物中稀土元素La,Ce,Pr,Nd,Sm,Eu,Gd,Tb,Dy,Ho,Er,Tm,Yb,Lu和Y的EDXRF分析方法,对分析线,二次靶,基体校正方法及校准曲线的回归等进行了探讨。结果表明,La,Ce,Pr,Nd和Y的校准曲线的相关系数r>0.99,其余元素的相关系数也均在0.969以上;Pr的检出限为4.09,其余元素的检出限在0.03~2.13之间;对岩石标准物质GBW07105连续测定10次,RSD在0.81%~8.35%;检验样本的EDXRF测定值与电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定值平均相对偏差在4.4%~15.4%之间,除Gd外其余元素的平均相对偏差均在15%以内,其中较好的为Y(4.4%),La(8.3%),Ce(8.3%),Nd(8.6%)。综上可知,本方法操作简单,能够实现大批量的岩石、土壤、水系沉积物中稀土元素的快速准确测定。 相似文献
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EDXRF外推回归法测定白色K金饰品中Ni和Pd的含量 总被引:6,自引:0,他引:6
本文所阐述的EDXRF外推回归法就是把多元素回归法与荧光强度的基本公式结合起来,根据样品的能谱图,从理论上计算了白色K金饰品中Ni和Pd的含量,进而计算了K金饰品成色,解决了无标样的难题。该法的标准偏差小于0.1%,与原子吸收法进行了比对,偏差小于0.3%。 相似文献
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铷是制造电子器件(光电倍增管、光电管)、分光光度计、彩色电影、彩色电视、雷达、激光器以及玻璃、陶瓷、电子钟等的重要原料;在空间技术方面,离子推进器和热离子能转换器需要大量的铷;铷的氢化物和硼化物可作高能固体燃料;放射性铷可测定矿物年龄,此外铷的化合物还可应用于制药、造纸业[1]。我国铷资源主要赋存于锂云母和盐湖卤水中,锂云母中铷含量占全国铷资源储量的55%,以江西宜春储量最为丰富,是目前我国铷矿产品的主 相似文献