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1.
1.实验装置和测量原理 本实验使用不锈钢圆形直激波管,高压段长1.6m,内径223mm;低压及实验段内径800mm。使用氢氧燃烧驱动,驱动压力约80ata,测量支架距膜片的有效距离为14m。 我们用薄膜电阻温度计式的金膜热探头在激波管中测量②区长度和波面形状,用电探针来测量分界区与③区的交界处。它们的信号直接或经过热电模拟线路以后,输  相似文献   
2.
对Si(111)解理清洁表面及其在氧吸附后测得的SiL_(2,3)VV俄歇谱进行数字积分、背底扣除及退自卷积后,得到了解理清洁表面在氧吸附前后的部分跃迁态密度。分析这两者之间的差别,结合别人的实验及理论计算结果表明:氧同时以分子形式及原子形式进行吸附,在吸附过程中,还同时形成氧化硅的价态。  相似文献   
3.
对Si(111)解理清洁表面及其在氧吸附后测得的SiL2,3VV俄歇谱进行数字积分、背底扣除及退自卷积后,得到了解理清洁表面在氧吸附前后的部分跃迁态密度。分析这两者之间的差别,结合别人的实验及理论计算结果表明:氧同时以分子形式及原子形式进行吸附,在吸附过程中,还同时形成氧化硅的价态。 关键词:  相似文献   
4.
薄膜辐射热探测器是一种结构简单,灵敏度高,响应快速的辐射热测量元件,特别适用于短时间超声速设备中的辐射测量,也可以在辐射能的标定中使用。这种探测器是在通常薄膜电阻温度计的表面上覆盖一层碳黑类物质,以增加它的吸收率和扩大吸收谱的宽度,且减少吸收率随波长的变化。  相似文献   
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