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根据行波管用的关键材料-钨铼合金中高含量铼测定的需求,研究了用X射线荧光(XRF)光谱法测定铼时所存在的基体效应、谱线重叠和背景干扰的影响,从理论上解释了XRF二元比例法校正曲线线性差的原因。理论和实验结果均表明：直接用Re Lα分析线强度绘制的校正曲线比二元比例法可以获得更好的线性。本法具有快速准确的特点,分析结果与化学方法一致,在生产控制中应用效果显著。 相似文献
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