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双电层相互重叠时蒙脱胶体表面阴离子的负吸附 总被引:2,自引:0,他引:2
本文用Ag-AgCl电极判断平衡,测定双电层处于不同重叠程度下肢体表面阴离子的负吸附量Γ.结果表明,胶体表面双电层相互重叠程度可由两胶体表面间的中点电位φd与外Helmhotz面处的电位φd之比表征;阴离子负吸附随双电层重叠程度和电解质浓度的增加而显著减小. 相似文献
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本文以实验为基础,运用计算机数值解解出双电层相互作用时平面胶体表面电位ψ随距离X的分布,依据作者导出的双电层相互作用时胶体表面阴离子负吸附方程,计算出胶体表面外Hclmhotz面(OHP)处的表面电荷密度σ_δ;讨论了双电层相互作用程度(ψ_d/ψ_δ)对胶体表面电位分布及其表面电荷密度的影响。 相似文献
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以SiO2表面的富水吸附层为纳米反应器制备CuO纳米粒子. 不同水量下的吸附量测定、溶剂置换和反应后吸附对比实验结果表明, SiO2表面存在吸附水层, 并且该吸附水层是反应的主要场所. 根据吸附数据, 认为Cu2+在体系中具有三区域浓度分布特点, 体系中水浓度和氢氧化钠浓度的增加均会使得Cu2+向吸附层区域迁移. XRD分析结果表明, 反应温度的升高和NaOH浓度的增大有利于生成更小的CuO晶粒, 其中温度的升高使吸附层厚度减小, 限制了晶粒生长; NaOH浓度的增大则会增大层内溶质过饱和度, 导致晶核形成速率加快. 相似文献
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以SiO2为载体,研究反应物种类和浓度对吸附相反应技术制备NiO粒子的影响。首先采用滴定法测定了各个反应物在载体表面的吸附过程,利用TEM、XRD分析,对比了不同反应物制备得到的NiO粒子的形貌。在确定了反应物的基础上,进一步设计了2种水量下制备实验,研究反应物浓度对粒子形貌的影响。XRD结果表明,1.0mL水量下NiO粒子的晶粒粒径随着反应物浓度增加先缓慢减少后增大。而随反应物浓度增加,5.0mL水量得到的粒子晶粒粒径则一直变大。2种吸附层中不同的反应速率使得相同条件下,高水量(5.0mL)得到的NiO粒子粒径要小于1.0mL水量下得到的粒子。物理吸附层中形成的粒子与载体结合力较弱,使得焙烧后5.0mL水量下得到的粒子在SiO2上分布不均匀。 相似文献
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吸附相反应技术制备纳米TiO2/SiO2复合材料 总被引:4,自引:0,他引:4
以SiO2表面形成的吸附层为反应器,在载体表面制备了纳米TiO2粒子.溶剂置换实验直接给出了吸附层的存在以及吸附层作为纳米反应器的实验证据,TEM,XRD和电子能谱分析表明,载体表面形成一层比较均匀的纳米粒子.初步探讨了温度和反应物浓度对产物分布的影响,分析了各种现象产生的可能成因. 相似文献
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