原子吸收光谱仪测量体系的受控分析

通过采用统计质量保证（SQA，Statistical Quality Assurance)技术，对原子吸收光谱仪（AAS）测量体系的性能进行了线性假设的受控分析，研究结果表明，该程序的应用能保证光谱仪测量体系始终处于统计受控状态，确保测试条件下数据结果的有效性，有利于分析测试试验室质量保证活动的开展。