超软X射线流气式正比计数管

介绍了一种用于测量183～933eV超软X射线的圆柱形、侧窗式、流气式正比计数管,工作气体是0.11MPa的P-10气体或氦气-丙烷混合气体。计数管内径为φ25mm,直径为φ0.3mm的入射窗是由厚度80～90μgcm~2聚乙烯甲醛制成的。该计数管的特点:(1)薄窗,对软X射线透过率高。(2)流气式,工作寿命长。(3)能量分辨率好。(4)计数率高(1×10~(14)个/s)。(5)可测能区宽(0.183～10keV)。(6)可以方便更换窗膜材料、厚度及窗口直径。近几年来该计数管已经为高强度低能X光源提供较好监测。     

黑腔靶中超热电子特性研究

近几年来,在“神光”装置上进行了1.053μm激光与平面靶及一系列柱形黑腔靶相互作用实验。用一台多道滤波—荧光X光能谱仪(FFS)测得各种靶发射的超热X射线谱,由谱推导超热电子温度T_h和超热电子总能量E_h当照射靶单束激光能量E_(tar)为400～670J、脉宽τ=650～1150ps时,发现黑腔内明显存在两群服从Maxwell分布高能电子(T_h=35～45keV;T_(hh)=150～350kev),而且E_(he)占E_(tar)的份额为10％～12％。实验还表明:腔内的E_(he)与非线性过程特征量(SRS)有较好的线性关系,因此推断出腔内超热电子产生的主要机制是受激Raman散射。在相同照射条件下,黑腔靶产生的超热电子比平面靶严重。     

激光聚变实验测量和诊断技术的新进展──激光间接驱动干净辐射场的建立和诊断

介绍了我们在激光惯性约束聚变（ＩＣＰ）实验测量和诊断技术方面取得的新进展。着重介绍了激光聚变黑洞靶辐射场干净性的实验测量及其诊断技术。采用改进后的带视场限制系统的散射光探测器和改进型法拉第杯分别测量了内爆区散射激光和快离子特性。巧妙设计腔靶结构,利用高能针孔相机和ＦＦ谱仪测量硬ｘ射线空间分布及能量变化,定出了进入内爆区中的超热电子量。     

用于硬X光诊断的K边滤波谱仪

介绍了用于低激光能量（Ｅ＿Ｌ≤２３ＯＪ）二倍频实验中硬Ｘ光诊断的多道Ｋ边滤波谱仪（简称Ｋ·ＦＳ）的工作原理、结构性能和特点，给出了Ｋ·ＦＳ在惯性约束聚变（ＩＣＦ）实验中观测硬Ｘ光谱的典型实验结果。     

1．053μm激光产生逃逸电子的实验观测

利用１．０５３μｍ钕玻璃激光辐照Ａｕ、Ｔｉ、Ａｇ及Ｃ＿８Ｈ＿８等材料平面靶，在不同功率密度Ｉ＿Ｌ下测量了等离子体中由于反常吸收而产生的逃逸高能电子能谱。测量是由一台可变磁场９０°焦β谱仪完成的。测量结果表明：在谱仪测量的能量范围内，热电子分布中的高能尾部在高能电子能谱中所占的比重是完全可以忽略的。我们所测的电子能谱大多数可以用麦克斯韦分布来描述，高能电子温度Ｔ＿ｈ一般为３０～７０ｋｅＶ。实验得到Ａｕ、Ｔｉ、Ｃ＿８Ｈ＿８平面靶Ｔ＿ｈ与Ｉ＿Ｌ之间的关系式。     

0．53μm激光产生的超热电子的实验观测

介绍了在“神光”Ｉ号装置上利用波长０．５３ｐμｍ、脉宽τ约７５０ｐｓ、能量６０～２３０Ｊ激光（靶面激光强度１×１０￣（１３）～５×１０￣（１５）Ｗ／ｃｍ￣２）照射Ａｕ盘靶和Ａｕ拄黑腔靶产生超热电子的实验观测结果与分析。实验测量１０ｋｅＶ以上硬Ｘ光谱和通量表明：采用倍频激光可以使超热电子能量明显比基频光小一个量级左右，超热电子温度Ｔ＿ｈ、热电子温度Ｔ＿ｅ均降低一半左右，受激Ｒａｍａｎ散射光能量Ｅ＿（ＳＲＳ）减少二个多量级。在我们的实验条件下，Ａｕ盘靶（等离子体定标尺度Ｌ≤１００μｍ）产生超热电子的主要机制可能是双等离子体衰变和共振吸收，此外还有受激Ｒａｍａｎ散射（ｎ≈ｎ＿ｃ／４），１００μｍ＜Ｌ≤２４０μｍ超热电子产生的主要机制是ＴＰＤ，此外还有ＳＲＳ（ｎ≈ｎ＿ｃ／４）；黑腔靶（Ｌ≥３００μｍ）超热电子产生的主要机制是ＳＲＳ（ｎ＜ｎ＿ｃ／４）。     

0.53μm激光与等离子体相互作用实验研究

利用神光–I激光装置的南路光束经KDP晶体倍频后的0.53μm激光与金盘靶相互作用,重点研究了吸收、X光转换、SRS超热电子和离子发射行为。结果表明,采用短波长激光,吸收和X–光转换率明显提高,SRS及超热电子的产生得到了明显抑制。     

1.053μm激光在腔靶中反常吸收和超热电子的研究

从1990年到1993年,在神光I上我们利用多种能量卡和谱仪,全面系统地研究了基频光在腔靶中产生的反常吸收和超热电子。实验获得了腔靶反常吸收光谱、能量和硬X光谱,给出了SRS能谱和能量、超热电子能量和温度与激光参数和靶型的关系,证明了采用短波长激光,SRS和超热电子明显减少。     

空腔靶超热电子实验研究

本文介绍了激光与空腔靶、平面靶相互作用时，利用多道高能X射线滤波-荧光谱仪(FF谱仪)、高能X射线角分布探测器以及激光功率能量计，对等离子体发射的超热X射线和受激喇曼散射光进行测量的情况；给出了不同实验条件下典型的超热X射线能谱、角分布、超热电子温度Th以及受激喇曼散射光能量ESRS，对实验结果作了分析和讨论。     

UFsh–O 软X光胶片在质子荧光源上的绝对刻度

 介绍在K –400质子加速器上，以质子激发低Z材料产生的内壳层荧光（波长0.50 ~ 6.8nm）作为光源绝对刻度UFsh –O软X光胶片。给出了该种胶片的三维黑密度曲线并对结果作了讨论。