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物理学
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1.
掠出射X射线荧光分析
总被引:4,自引:0,他引:4
巩岩
陈波
尼启良
曹建林
王兆岚
《物理》
2002,31(3):167-170
掠出射X射线荧光分析技术是全反射X射线荧光分析技术的延伸和发展,文章介绍了掠出射X射线荧光分析技术的形式,特点,基本原理和作者在实验室搭建的实验装置,简述了掠出射X射线荧光分析技术的发展史,以及该技术在化学元素微量和痕量分析及薄膜特性分析等领域中的应用,展望了这种技术今后的发展前景。
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