三氧化钨电致变色薄膜最佳掺杂含量的理论计算

介绍电致变色薄材料最佳掺杂含量的定量理论。该理论建立了电子薄膜材料的某一物理性能与晶体结构、制备方法和掺杂剂含量之间的联系，给出了一个能够拟合实验曲线的具有确定物理意义的抛物线方程。该方程的极值点确定了最佳掺杂含量与晶体结构和制备方法之间的定量关系，进而得到了一个最佳掺杂含量的表达式。分析三氧化钨电致变色薄膜材料的掺杂改性的实验结果，应用最佳掺杂含量表达式定量计算了三氧化钨以及三氧化钼电致变色薄膜材料的最佳掺杂含量，定量计算的结果与实验数据相符合。该理论方法也适用于其他材料最佳掺杂粒子数分数的理论计算。     

液晶显示器中液晶分子取向膜边缘的轮廓

介绍了一种具有纳米级测量灵敏度的非接触光探针平整度仪,其分辨率优于1nm。这种测试仪在电子玻璃、半导体、集成电路、薄膜和纳米技术等领域都具有很大的应用前景。给出了该平整度仪在液晶显示器中液晶分子取向膜边缘表面轮廓形状研究方面的一些测试结果。结果表明,该平整度仪可以在液晶显示器件研究中发挥作用。