X射线荧光法对镁铬砂成分的定量测定

本文利用Ｘ射线荧光光谱仪同时测定镁铬砂中的ＳｉＯ２、ＣａＯ、Ｆｅ２Ｏ３、Ａｌ２Ｏ３、Ｃｒ２Ｏ３、ＭｇＯ等主要成分的含量,采用合理的制片方法消除了矿物效应和颗粒效应,采用基体校正法基本上消除了基体效应。实验表明：该方法简便快速、精密度高、准确好,结果较为满意。