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X射线干涉技术是在用X射线研究晶体缺陷的过程中发展起来的一门新技术。虽然,很早以前就已观察到X射线的干涉现象,但只是在大而近乎完整的人造单晶出现之后,才有可能实现X射线干涉技术。1965年,U.Bonse和M·Hart制成了第一台X射线干涉仪[1]。至今,X射线干涉技术的面貌有了相当大的变化[2-4],在理论描述[5,6]和在方案设计[7-11]上都有了新的进展,在实际应用上也远超出了观察晶体缺陷的范围。在物质研究方面,它可应用于测定物质对x射线的折射率、物质的厚度,测定绝对单位的结构因子,实现X射线的全息照相术,这些对于物质结构的理论研究将… 相似文献
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