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为了说明Si2516线的定标曲线的斜度与物质浓度的定量关系是否有更普遍的意义,我们进一步考察了钴、镍的多重谱线系中13条谱线的定标曲线的斜度与物质浓度的关系。一系列的实验结果指出,对某一谱线来说,定标曲线的斜度决定于物质的浓度;在另一方面,当分析物质的浓度在一定范围时,多重谱线中不同谱线的定标曲线的斜度与相应谱线的固有强度也有线性的定量关系。因此我们可以认为在光谱分析中,定标曲线的斜度b主要决定于谱线的强度。对b的物理意义的进一步了解,指出了在实际分析时提高定标曲线斜度的一些途径。 相似文献
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Grimm辉光放电灯已被用于发射光谱逐层分析。由于样品成份随深度急剧变化,很难找到成份与其相近的标准来标定元素含量,有时只给出了定性结果。本文提出了一种新的标定方法。我们用辉光放电和原子发射光谱的基本理论分析了辉光灯中的溅射和激发过程。在固定放电电压和气压的条件下,得到了一个新的标定公式: I=K(gAC) 式中I、C、g、A分别是分析元素谱线强度,溅射表面该元素的含量,溅射率和放电电流,K是个与其它元素的存在无关的比例系数。g和A都会因样品成份不同而有差别,这说明它们代表了样品中的基体和共存元素影响。但是它们可以在实验中测量。这样就可以用纯金属或不同基体的合金作为标准来标定被测样品溅射表面的元素含量,进行逐层定量分析。当用摄谱法时,相应的公式为: S=γlog(gACt)+k 式中S,γ,t分别代表谱线黑度,干板反衬度和暴光时间。 相似文献
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谱线强度(I)与物质浓度(C)之间的定量关系是定量光谱分析的物理基础。由于实际光源中的谱线或多或少地都有自吸收现象,所以在实际情形下,I与C的关系是较为复杂的。本文中应用迁移取样法进行铸铁中的硅的光谱分析,选择了适当的条件,使Si 2516多重谱线系中的Si 2519线在光源中不发生自吸收,因而可以用它的强度代表光源中的物质浓度,同时测定了多重谱线系中发生自吸收最严重的Si 2516线的定标曲线斜度b与物质浓度C的关系(b=klogC+β+1),从而得出I与C的关系式如下:logI=k/2(logC)2+(β+1)logC+α,这里β与α是试验条件下的两个常数;k是b与logI2519的关系直线的斜度。在理想的情形,当谱线没有自吸收时,b=1,k=0,所以logI与logC之间便有直线的关系;当谱线有自吸收时,谱线的强度与物质的浓度有抛物线的关系。这个关系式所描述的与在较大浓度范围内一般实验中所观察的一致。 相似文献
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一种新的发射光谱光源辉光放电灯的研制 总被引:1,自引:0,他引:1
自从一九六七年Grimm设计了一种结构特殊的辉光放电灯作为发射光谱分析的光源以来,辉光放电光源逐渐引起光谱分析工作者的注意和研究。这种光源的取样和激发机理与惯用的电弧、火花等光源有所不同。它稳定性好,共存元素影响小,谱线自吸收小,并且能对试样表面逐层地取样分析。这使它在高含量合金成份的分析和表层分析方面显示出较大的优越性。我们已研制出这种光源,对它的工作参数、性能及其相互关系进行了初步研究,并与摄谱法配合作了金属表层逐层分析,效果较好。一、设备全部设备由辉光灯、供气系统和稳压电源三部分组成。 相似文献
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实验研究了常用载体Ga2O3,Na2CO3在石墨、氧化锆、八氧化三铀、氧化钍、氧化铍及五氧化二钽等六种基体中的作用规律。实验结果指出,在上述六种基体中,载体对谱线强度的影响(logI/I0)与该元素的电离电位(V)之间有一定的比例关系。根据实验测到的电弧温度和电离度的数据,分析了载体影响的各种因素;最后我们认为,在分馏法的条件下,需要考虑电场的影响,这时,载体的作用主要是通过弧柱中的温度和电离度的 相似文献
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