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本文研究了ICP-AES直接粉末法分析中一些主要因素(诸如:ICP电学参数、载气流量、单位时间进样量及试样成分等)对谱线强度的影响问题。作者指出,分析过程中上述因素常发生非人为所能控制之变化,谱线强度亦随之改变,所造成的分析误差,可藉助缓冲和内标的作用加以减弱或消除。文中以大量实验数据阐明了ICP-AES直接粉末法分析中缓冲剂和内标的作用并提出了供参考的选择原则。 相似文献
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