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1.
壳聚糖膜与Co(Ⅱ)、Ni(Ⅱ)、Cu(Ⅱ)复合物的IR光谱和XPS谱
总被引:6,自引:0,他引:6
郝志峰
杨阳
余坚
张耀芳
陈广新
《光谱实验室》
2003,20(6):799-802
将壳聚糖制成膜后浸泡在含有金属离子Cu(Ⅱ)、Co(Ⅱ)、Ni(Ⅱ)的溶液中制备得到相应的复合物。根据IR光谱中官能团特征频率的位移和XPS谱中元素结合能的变化,表明Co(Ⅱ)、Ni(Ⅱ)、Cu(Ⅱ)与壳聚糖膜的吸附机理包括物理作用和化学吸附,其中化学吸附是通过壳聚糖表面部分-NH2提供孤对电子和金属离子形成了配位键。
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