CT-6托卡马克电子回旋辐射测量

本文报道了测量CT—6托卡马克二次谐波非寻常模的电子回旋辐射的实验结果及局部等离子体的电子温度Te随时间变化。通过改变装置纵场B_T值得到Te的空间分布。与硬X射线测量比较,确定了CT-6装置在电流上升阶段经常出现的逃逸电子辐射现象。本文也给出了实验中所观察到的等离子体内部MHD不稳定性所引起的辐射锯齿形扰动。