光热反射技术测量表面下微尺度热结构

采用周期半导体激光为加热源,连续半导体激光为探测光,光学显微镜物镜聚光,应用稳态的光热反射探测技术得到相应于表面温度响应的周期反射信号,建立一套5～10微米分辨率的实验室用测试系统.利用光刻的形式,制作了掩埋在金属表面下si基体中的SiO2的图形,分别使用不同频率对其进行-维扫描,在合适的频率下得到被埋藏物的信息,实现微米量级简单结构复合试样的热结构测量.     

传输线理论求解层状物体的热传导问题

本文通过对层状结构材料表面受到周期热流作用时的一维及三维稳态热传导问题运用拉氏变换、Hankel变换、传输线理论和反积分变换进行理论解析,得到被加热点的温度响应,并将其与周期加热热流进行比较,得出两者位相差、振幅比对于复合结构的依存性,由此定义对比度,从而确定结构测量原理,为表面下热结构测量信号的反演提供理论依据和方法.