化学腐蚀法制备荧光多孔硅及对Ag~+的检测

采用简便的化学腐蚀法在45℃下制备了橘红色荧光多孔硅(PS),通过扫描电镜(SEM)、红外光谱(FT-IR)和比表面积(BET)对PS的结构进行了表征。研究发现,Ag~+能在PS上发生氧化沉积而猝灭荧光。基于此,建立了一种快速、灵敏检测Ag~+的新方法。在优化实验条件下,Ag~+浓度与PS的荧光强度在4.5×10~(-8)~6.6×10~(-7)mol/L范围内呈良好的线性关系,检测限为2.2×10~(-8)mol/L,线性相关系数为0.991 4。该方法用于水样中Ag~的检测,结果满意。     

DMF保护的荧光银纳米簇的制备及其对Hg~(2+)浓度的检测

采用N,N-二甲基甲酰胺(DMF)作为还原剂和保护剂,在140℃下回流反应,简便合成了荧光银纳米簇(DMF-Ag NCs)。通过高分辨率透射电镜(HRTEM)、紫外-吸收光谱、荧光光谱对DMF-Ag NCs进行了表征。研究发现,Hg~(2+)会使DMF-Ag NCs聚集而猝灭荧光。基于此,建立了一种快速、灵敏检测Hg~(2+)的新方法。在最佳实验条件下,Hg~(2+)溶液浓度与DMF-Ag NCs荧光强度在5.0×10-9~1.5×10-7mol/L范围内呈良好的线性关系,检测限为3.0×10-9mol/L,线性相关系数为0.995 8。该方法可用于环境水样中Hg~(2+)的检测。