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1.
一个原子与宁一个同核双原子分子反应碰撞的过渡态构型是线型的, 计算了平衡临界键长的统计分布函数及其平均值、反应活化能和反应速率常数, 理论结果与实验值相符.  相似文献   
2.
胡海龙  张琨  王振兴  孔涛  胡颖  王晓平 《物理学报》2007,56(3):1674-1679
在金(111)表面组装了具有不同末端基团的硫醇单层分子膜,并利用导电原子力显微镜研究了分子膜的电输运性质,发现不同末端基团的分子自组装膜的导电能力有明显差别.结合X射线光电子能谱,研究了末端基团中碳原子的结合能与相应硫醇分子电导的关系.结果表明不同末端基团分子膜导电能力的差别可归结为末端基团碳原子电子结合能的差异.结合能越高,末端基团电子的局域化程度越强,导致电子有效注入分子主链的势垒越高,从而减弱了分子膜对电子的输运能力.此外,实验还发现不同末端基团的硫醇单层分子膜有不同的表面电势,导致分子膜电流电压特性曲线的零点产生偏离. 关键词: 分子自组装膜 输运特性 末端基团 导电原子力显微镜  相似文献   
3.
The application of surface acoustic waves(SAWs) for thickness measurement is presented. By studying the impact of film thickness h on the dispersion phenomenon of surface acoustic waves, a method for thickness determination based on theoretical dispersion curve v( fh) and experimental dispersion curve v( f) is developed. The method provides a series of thickness values at different frequencies f, and the mean value is considered as the final result of the measurement. The thicknesses of six interconnect films are determined by SAWs, and the results are compared with the manufacturer's data.The relative differences are in the range from 0.4% to 2.18%, which indicates that the surface acoustic wave technique is reliable and accurate in the nondestructive thickness determination for films. This method can be generally used for fast and direct determination of film thickness.  相似文献   
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