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摄影测量图像处理的高精度误差补偿法 总被引:1,自引:0,他引:1
在高精度的摄影测量中,图像处理精度对整体测量精度起着至关重要的作用,但成像过程中摄像机对特征点图像的离散化采样,会造成图像与原始信号的失真,从而带来图像处理环节的误差。通过对图像处理过程中特征点总能量、能量分布弥散半径和图像处理窗口的特性分析,并以特征点中心位置、提取误差大小和能量密度函数的标准差之间关系为基础,提出一种针对离散化采样的误差补偿法。该方法仅需标定一次补偿参数,适用于所有摄像机和算法,可显著提升原有图像处理精度。实验证明,对于质心法和高斯拟合法,该补偿法可将图像提取精度提高到0.03pixel。 相似文献
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ME MS的光学检测方法和仪器 总被引:5,自引:1,他引:4
随着微电子机械系统(MEMS,MicroElectroMechanicalSystem)研究的深入和产业化的需求,其检测在MEMS中的重要性越来越大。光学检测方法以其非接触、快速、高精度等优点得到了大量的应用。分析和介绍了国内外采用光学检测法进行MEMS检测的方法及相关检测仪器在测量中的应用。尤其是Nanosurf测量仪器,它是一种独立的三维非接触测量系统,扫描共焦显微镜是基于白光共焦技术,强大且友好的软件控制使所需获得的数据不仅速度快,而且精度很高,并且提供了多种不同的表面分析方法。 相似文献
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高斯光束经位于成像系统共轭面的两个散射体(其中一个是恒速运动)后,在距像面为菲涅尔区的观测面上形成了串级动态散斑场.理论分析和实验测量结果均表明,这种动态散斑的空-时相关函数与一次散射形成的动态散斑相比,对散射体的运动十分敏感,但其时间相关长度与速度的倒数仍然保持线性关系. 相似文献
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基于非参数测量模型的摄影测量方法研究 总被引:1,自引:0,他引:1
由于近景摄影测量具有测量范围广、精度高和效率高等优点,其在大尺寸精密测量任务中承担越来越重要的角色。其中,基于平差优化的自标定测量模型是保证该方法实现高精度测量的重要原因。然而,随着越来越多的商业级单反相机应用到三维空间测量,发现其测量精度与专业相机相比有一定差距。经过大量分析发现,除了相机本身原因外,自标定模型过多地依赖相机内部参数,尤其是畸变参数,是导致测量精度降低的重要原因。为了降低参数化模型对测量结果的影响,提出一种不依赖相机内部参数的摄影测量方法。结合垂线法和Zeiss实验室标定方法,设计了一种针对大视场相机的非参数标定方法。经过不同图像间同名点匹配和平差初值确定后,便可建立基于角度信息的非参数测量模型。结合平差优化算法,完成对空间被测点三维坐标的精确解算。经过与传统摄影测量结果比对,证明该方法可以有效提高大视场单反相机的摄影测量精度。 相似文献