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1.
元件失效数据
叶秀宜
《数理统计与管理》
1989,(1):34-36
〔译者的话〕:电子设备的可靠性在很大程度上取决于元件的质量.原译文较全面地介绍了元件失效类型、影响失效的因素、失效率评估方法、环境试验等质量管理和数据分析内容,由于篇幅所限,对译文进行了裁剪、编辑,难免有不妥或疑义之处,敬请读者查阅原文予以指正.
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