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本文针对含表面裂纹的C/E复合材料层板,运用云纹干涉法测定了层板表面的面内位移及其导数场,提出了一种四次曝光直接错位的位移导数测量方法。与有限元计算结果对照,表明实验条纹图与计算条纹图基本是一致的.  相似文献   
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