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1.
20 0 2年 8月号问题解答(解答由问题提供人给出 )1 3 86 试证明 :有两边及一个角的角平分线对应相等的两个三角形全等 .(湖北宜昌市十一中学 是海松 443 0 0 3 )证明 设△ABC和△A′B′C′的三边分别记为a、b、c和a′、b′、c′,三条角平分线分别记为ta、tb、tc和ta′、tb′、tc′,半周长分别记为p和p′.当有两边及它们的夹角的平分线对应相等时 ,不妨设b=b′,c =c′,ta =ta′.由ta =2b+c bcp(p -a) ,ta′ =2b′+c′ b′c′p′(p′ -a′)得 :2b+c bcp(p -a) =2b+c bcp… 相似文献
2.
对铝原子簇Al_n(n=1~10,12,13)已报导过的理论预测几何构型进行合理选择, 用量子化学CNDO/2法研究了单分子一氧化碳在这些簇上取不同吸附位形时的吸附作用。结果表明吸附强度随簇尺度的变化呈“幻数”特性: Al_2、Al_6、Al_(12)簇具有特别高的吸附能, 与实验观测结果相符。采用作者建议的推广电子壳模型可合理解释这一尺度效应。对Al_(12)和Al_(13)簇电子结构的分析进一步支持了壳模型的观点。随着簇的增大, 尺度效应逐步减弱并趋向于体相铝的性质。 相似文献
3.
4.
介质层厚对含负折射率介质Bragg微腔的影响 总被引:1,自引:0,他引:1
研究了介质层厚对含负折射率介质一维光子晶体Bragg微腔的缺陷模和双稳态的影响.在中心频率附近将传输矩阵各矩阵元采用泰勒级数展开并取一级近似,得到了缺陷模频率与介质层厚的关系式及品质因子公式.研究结果表明:一级近似法能很好地解释中心频率附近介质层厚对缺陷模频率的影响.理想Bragg微腔结构的缺陷模品质因子最大;递增正折射率介质层厚和增大缺陷层介质层厚、递减负折射率介质层厚及同时等量递减正和负折射率介质层厚,均可使缺陷模红移,双稳态阈值降低. 相似文献
5.
二次损失下增长曲线模型回归系数线性估计可容许性特征 总被引:7,自引:0,他引:7
伍长春 《数学物理学报(A辑)》1994,(4)
该文讨论了增长曲线模型回归系数线性估计在六种不同形式容许性定义下的可容许性.在较特殊的增长曲线模型下,证明了这六种容许性在特殊的估计类中是一致的,且得到了其共同容许估计的充要条件.但在线性估计类中它们不是一致的,可分为两类,并分别得到了其可容许估计的充要条件. 相似文献
6.
用从头算和静电势方法研究了光电转换模拟体系C_6H_7N+C_6H_8N~+中的分子间电荷转移。通过计算分子间的静电势分布,确定了电子在分子间运动所需穿透势垒的特性,对电子穿透几率及穿透弛豫时间等参数作了理论预测并研究了外接基团的影响。在分子间距d=0.35nm时,穿透几率P=2.94×10~(-4),穿透弛豫时间τ=3.4×10~(-10)s,在此情况下,由模型分子组成的截面积为10×1mm~2的多层分子膜,在光照条件下可能产生的理论光电流为0.28A。 相似文献
7.
8.
本刊编委产生的方式有三种:自荐推荐和聘请 自荐是本刊提倡的方式。凡不计报酬乐意献身于科技期刊出版事业基本具有副高级以上技术职称的同志 都可以自荐为本刊编委。自荐者可与本刊联络处联系 地址:北京市信箱分箱刘建林 邮政编码:。 《光谱实验室》编辑部 《光谱实验室》2001,18(1):68
本刊编委产生的方式有三种:自荐、推荐和聘请,自荐是本刊提倡的方式。凡不计报酬、乐意献身于科技期刊出版事业、基本具有副高级以上技术职称的同志,都可以自荐为本刊编委。自荐者可与本刊联络处联系,地址:北京市81信箱66分箱 刘建林,邮政编码:100095。 《光谱实验室》编辑部 相似文献
9.
10.