氧化铝XRD衍射谱的全谱拟合与温度因子

通过对多晶材料的X射线衍射（X-ray Diffraction,简称XRD）数据做全谱拟合（即Rietveld结构精修）,不仅得到了材料的晶体结构信息（晶胞参数、原子占位等）,而且还得到相关的热物理参数（Debye-Waller温度因子、Debye温度、Gruneisen参数,弹性模量和声速等）。以室温下多晶α—Al2O3的XRD数据为例,简要介绍了如何对XRD衍射数据进行结构精修,并得到Debye-Waller因子、Debye温度、声速等热物理参数