全文获取类型
收费全文 | 90篇 |
免费 | 4篇 |
国内免费 | 30篇 |
专业分类
化学 | 98篇 |
晶体学 | 1篇 |
综合类 | 1篇 |
物理学 | 24篇 |
出版年
2020年 | 1篇 |
2019年 | 2篇 |
2018年 | 2篇 |
2017年 | 6篇 |
2016年 | 4篇 |
2014年 | 2篇 |
2013年 | 2篇 |
2012年 | 5篇 |
2011年 | 5篇 |
2010年 | 1篇 |
2009年 | 2篇 |
2007年 | 4篇 |
2006年 | 4篇 |
2005年 | 7篇 |
2004年 | 9篇 |
2003年 | 14篇 |
2002年 | 14篇 |
2001年 | 5篇 |
2000年 | 4篇 |
1999年 | 2篇 |
1998年 | 2篇 |
1997年 | 5篇 |
1996年 | 1篇 |
1995年 | 2篇 |
1994年 | 1篇 |
1993年 | 2篇 |
1992年 | 2篇 |
1991年 | 2篇 |
1990年 | 4篇 |
1989年 | 2篇 |
1988年 | 3篇 |
1986年 | 2篇 |
1984年 | 1篇 |
排序方式: 共有124条查询结果,搜索用时 15 毫秒
1.
微模塑法制备PMMA/SiO2二氧化硅杂化材料微结构 总被引:1,自引:0,他引:1
以摩尔比为 1∶1的甲基丙烯酸甲酯 (MMA)、甲基丙烯酸 (3 三乙氧基硅烷基 )丙酯 (ESMA)单体、0 .2 %(单体总量的质量分数 )的偶氮二异丁腈AIBN引发剂和四氢呋喃 (THF)溶剂 ,及 2 0 % (总质量分数 )的正硅酸乙酯TEOS合成出PMMA/SiO2 有机 无机杂化的杂化溶胶 .将溶胶在洗净的普通光学玻璃基片表面甩膜 .利用软刻蚀中的微模塑法 ,把有机硅弹性印章复制有精细图纹一面轻放在杂化溶胶膜上进行微模塑 ,外加 1N压力于12 0℃下处理 2h使溶胶凝胶化 .印章剥离后在基片表面就形成了PMMA/SiO2 有机 无机杂化材料的微图纹结构 .从微图纹的光学显微镜照片可以看出微模塑方法制备杂化材料复制的图纹精细度高 ,操作简单易行 ,是一类比较理想的微细图纹结构加工的方法 . 相似文献
2.
长链脂肪酸LB膜的X射线衍射研究 总被引:4,自引:0,他引:4
利用Langmuir-Blodgett技术制备了硬脂酸、花生酸及其混合酸的多层LB膜。用低角X射线衍射研究了它们的周期结构,硬脂酸和花生酸的LB膜在2θ=0.8°~23°的范围内分别出现13个和12个布拉格衍射峰,由此计算了它们的等同周期。用模型计算了它们衍射峰的强度,得到了与实验一致的衍射强度奇偶起伏的结果。在混合酸的LB膜中,可以观察到等同周期随混合比变化的规律。 相似文献
3.
4.
Parametric normalization for full-energy peak count rates obtained at different geometries 总被引:1,自引:0,他引:1
Tian Weizhi Ni Bangfa Wang Pingsheng Peng Lixin 《Journal of Radioanalytical and Nuclear Chemistry》1993,170(1):27-42
The Effective Interaction Depth (EID) law has been systematically studied and applied to parametric normalization for peak count rates obtained at different source-detector distances (S-D). The errors caused by EID normalization are less than 4% over the full range of S-D (from to several mm) for true coincidence-free -rays. Parametric corrections for the true coincidence (summing) effect are also established, based on simplified decay schemes and P/T ratio determinations. The total response of Ge detector for single-energy -rays (T) is clearly defined with scattering contributions from surroundings included. Errors from summing effect corrections are also less than 4%. The combined EID normalization and summing effect corrections give an error no greater than 5.7% for the worst situations (several mm S-D and cascade-crossover decay scheme), acceptable for most practical K0 NAA. 相似文献
5.
关于《高聚物的结构与性能》课的教学主线 总被引:1,自引:5,他引:1
关于《高聚物的结构与性能》课的教学主线何平笙(中国科学技术大学材料科学与工程系,合肥,230026)《高聚物的结构与性能》课,许多院校也称之为《高分子物理》课。顾名思义,是包括以高聚物为对象的全部物理学内容的课程,往往给人以内容庞杂的印象。加之该学科... 相似文献
6.
7.
8.
9.
具有自修复能力的聚合物材料 总被引:4,自引:0,他引:4
各项性能已经达到工程材料指标要求的聚合物材料,在使用过程中不可避免地会产生裂纹,进而在使用过程中包藏着隐患,直至丧失使用价值。裂纹的早期修复,特别是自修复是一个现实而重要的问题。本文介绍了两类修复机制,即共价键与非共价键愈合,重点分析了近年来按共价键机理愈合、具有自修复能力的聚合物材料的研究成果、优缺点及发展前景。 相似文献
10.