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The lattice profile analyzes the intrinsic structure of pseudorandom number sequences with applications in Monte Carlo methods and cryptology. In this paper, using the discrete Fourier transform for periodic sequences and the relation between the lattice profile and the linear complexity, we give general formulas for the expected value, variance, and counting function of the lattice profile of periodic sequences with fixed period. Moreover, we determine in a more explicit form the expected value, variance, and counting function of the lattice profile of periodic sequences for special values of the period.  相似文献   
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A self-referencing, optical modulation technique was used to measure the negative luminescence efficiencies of an array of mid-wave infrared HgCdTe photodiodes with cutoff wavelength 4.6 μm as a function of sample temperature. The internal efficiency at a wavelength of 4 μm was 93% at 295 K, and nearly independent of temperature in the 240–300 K range. This corresponds to an apparent temperature reduction >50 K at room temperature and >30 K at 240 K. Moreover, the reverse-bias saturation current density was only 0.13 A/cm2. The measured transmission and emission spectra were simulated using empirical HgCdTe absorption formulas from the literature.  相似文献   
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Geerk  J.  Linker  G.  Meyer  O.  Politis  C.  Ratzel  F.  Smithey  R.  Strehlau  B.  Xiong  G. C. 《Zeitschrift für Physik B Condensed Matter》1987,67(4):507-511
Thin superconducting films of La1.8Sr0.2CuO4 have been prepared by magnetron sputter deposition and subsequent temperature treatment. The composition of the films has been determined by Rutherford backscattering and the structure by thin film X-ray diffraction. The onset of superconductivity was about 32 K and the midpoint near 28 K. Defect production in the films by He ion bombardment revealed a drasticT c reduction with a sensitivity similar to that observed in the Chevrel phases. Oxygen implantation and subsequent annealing led to an enhancement of theT c onset.  相似文献   
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Since a comprehensive survey published in 1999 [1] much work was done in standardizing measuring methods to characterize the surface geometry of dispersed and/or porous solids and to certify reference materials. The present paper is an extension of a short communication [2]. It gives a survey on existing standards and reports on new drafts and proposals.  相似文献   
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