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X射线荧光光谱法测定铝合金及纯铝中痕量元素 总被引:1,自引:0,他引:1
根据X射线荧光光谱法分析样品形状要求,按照待测物料形状,适合于X射线荧光光谱测量的棒状类样品用车床车割,块、片状类样品用锯、锉刀处理,屑类样品首先用液压机压成片状,再用锉刀处理成适合于X射线荧光光谱分析的待测样品.测试了铝合金和纯铝中铁、硅、铜、镓、镁、锰、锌、钛和铬的含量,对于测量不灵敏的镁,每次测试带全套标样,峰值计量,单独为组测量可保障其准确度.基体单纯、固定的样品,测量痕量元素含量时峰值强度计量优于扣除背景的净强度计量,可避免背景测量误差,测量结果与直读光谱法相符.9项元素的精密度均优于3%. 相似文献
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合金工具钢的X射线荧光光谱分析 总被引:1,自引:1,他引:0
本文介绍了用X射线荧光光谱仪测量合金工具钢中Mn,Cr,V,W,Ti,Nb,Co,Zr,Ni,Mo,S,P,Si和Cu十四个元素的方法,度样经砂轮抛光酒精棉擦拭后直接测量,结果与内控标样吻合,方法的精密度(n=8)除W,Tr,Nb和Zr外,大多数元素在0.13-9.59%,适应铬钒钢,锰钢,模具钢,中低合金钢等多种钢种的分析。 相似文献
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X射线荧光光谱法测定混合稀土氧化物中稀土分量 总被引:4,自引:1,他引:3
建立了X射线荧光光谱法测试稀土氧化物中稀土分量的方法,讨论了样品制作方法,提出用聚四氟乙烯制作样品底座,分析试液1 mL滴入样品底座的吸附滤纸上,烘箱或红外灯下烘干,6 μm聚脂薄膜扣住测量,样品底座不吸附试样,吸附滤纸的位置及平整性由于内标的补偿不影响分析结果的准确性,初步探讨了薄试样的基体效应,测试的稀土含量范围为:La2O3 0.01%~50%,CeO2 0.01%~15%,Pr6O11 0.01%~12.5%,Nd2O3 0.01%~40%,Sm2O3 0.01%~40%,Eu2O3 0.01%~10%,Gd2O3 0.03%~40%,Tb4O70.01%~5%,Dy2O3 0.05%~10%,Ho2O3 0.01%~4.5%,Er2O3 0.01%~8%,Tm2O3 0.01%~2%,Yb2O3 0.01%~8%,Lu2O3 0.01%~1.5%,Y2O3 0.5%~80%,测试结果与外检吻合.方法易于操作,重现性好,适应范围广,测试了大量其他物料成分,可满足定量分析要求,已作为常规分析手段. 相似文献
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