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高纯铟及磷化铟中微量硅及金属杂质的测定方法很多。用比色法测定硅时,分离方法复杂,空白值较高。质谱法及中子活化法灵敏度很高,能同时测定多种杂质元素,但由于设备条件的限制,目前还不易普及推广。用普通的化学光谱法测定铟及磷化铟中金属杂质时。通常采用萃取法将基体铟分离.杂质富集浓缩后 相似文献
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自有关振动子方波极谱仪的文章发表以后,我们收到不少来信,询问如何将国产871型极谱仪改装为振动子方波极谱仪。现将我们工作中的一些经验提出来,供有关单位参考。我们原来的振动子方波极谱仪是用捷克V-301型极谱仪,加上两个振动子及其他一些 相似文献
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