基于环摆式双面抛光法加工预测模型的去除均匀性研究

针对环摆式双面抛光难以建立稳定去除函数并进行加工面型预测这一问题,提出了基于磨粒运动学的环摆式双面抛光加工预测模型,并通过预测模型分析不同参数影响下元件表面去除均匀性,针对不同特征面型给出优化策略以指导加工实验。首先,根据环摆式双面抛光机理,探究了环摆式双面抛光中影响去除均匀性的主要因素,提出了元件上、下表面磨粒运动学模型,结合Preston方程给出了基于磨粒运动学的环摆式双面抛光去除均匀性预测模型。根据实际加工工况,分析了不同抛光均匀性影响因素下的磨粒轨迹分布与抛光去除非均匀性,最后通过加工实验验证环摆式双面抛光加工预测模型。实验结果表明：环摆式双面抛光加工预测模型的预测结果与实际加工结果基本吻合,其面型去除特征相同。元件上表面是元件去除非均匀性的主要来源,通过改变中心偏心距、径向摆动距离等参数能改变元件上表面的去除非均匀性,从而影响元件整体面型特征,并实现基于预测模型指导下元件表面面型的快速收敛。     

无机元素的指纹图谱分析在透明质酸钠来源鉴别中的应用

采用电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)、离子色谱(IC)和电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)技术,分别对不同生产厂商的不同来源的透明质酸钠(Sodium hyaluronate, SH)原料中的Na、Cl和其它70种无机元素进行分析。利用主成分分析(PCA)、偏最小二乘判别分析(PLS-DA)、正交偏最小二乘判别分析(OPLS-DA)和系统聚类分析(HCA)等多种统计学方法建立SH的无机元素指纹图谱。实验结果表明,不同厂家生产的SH产品在无机元素含量和种类方面存在显著差异。利用PLS-DA分析技术可以有效地区分这些样品,交叉验证准确率达到84.6%,其中,Li、Ca、Nb和P元素含量是区分产品分类的关键组分参数。本研究结果表明,无机元素指纹图谱分析技术可以区分不同品牌及生产工艺的SH产品,在化妆品的鉴别、工艺参数改进和质量评估中具有重要的应用价值。