全文获取类型
收费全文 | 20篇 |
免费 | 17篇 |
国内免费 | 63篇 |
专业分类
化学 | 77篇 |
综合类 | 2篇 |
数学 | 1篇 |
物理学 | 20篇 |
出版年
2024年 | 1篇 |
2023年 | 2篇 |
2022年 | 2篇 |
2019年 | 1篇 |
2016年 | 2篇 |
2013年 | 1篇 |
2011年 | 2篇 |
2010年 | 1篇 |
2009年 | 1篇 |
2008年 | 2篇 |
2007年 | 5篇 |
2006年 | 6篇 |
2005年 | 7篇 |
2004年 | 11篇 |
2003年 | 10篇 |
2002年 | 5篇 |
2001年 | 1篇 |
2000年 | 11篇 |
1999年 | 12篇 |
1998年 | 4篇 |
1997年 | 2篇 |
1996年 | 4篇 |
1995年 | 1篇 |
1994年 | 2篇 |
1993年 | 1篇 |
1991年 | 1篇 |
1985年 | 2篇 |
排序方式: 共有100条查询结果,搜索用时 0 毫秒
1.
2.
3.
随着油田深部调剖应用的不断推广,以及环保要求的提高,适用于深部调剖调驱体系的低污染有机锆交联剂逐渐受到关注。以ZrOCl2·8H2O、乳酸、乙二胺、硫脲为原料,制备了有机锆交联剂和HPAM-锆交联凝胶,其结构和性能经SEM和岩心驱替装置表征。并利用正交实验法优化了制备条件。结果表明:制备有机锆交联剂的最佳条件为:氧氯化锆、乳酸、乙二胺及硫脲的质量比为7.8/1/6.7/5,反应温度为70 ℃,反应时间为3 h。交联温度为60 ℃,HPAM浓度为2 g·L-1、聚锆比为30/1时,聚合物凝胶成胶强度达到24968 mPa·s,成胶时间约8 h,凝胶体系可维持90 d不破胶。在级差为3.9的双管驱替岩心实验中,两管的岩心分流率均接近50%,剖面改善率达到66.77%。 相似文献
4.
高压电脉冲压裂技术是基于液电效应,通过水中脉冲放电产生强大的冲击波使岩石产生裂缝,近年来成为了岩石压裂领域的热点研究对象。搭建了两路电流源模块应用于水中放电,采用铜材料的针针电极,电极间距1 mm;研究了在不同放电电压下,单路和两路电流源模块电极间的电压、电流波形。实验结果表明,空载时在同一放电电压下,双路模块产生更大的放电电流,从而在放电时获得更高的瞬时功率;而在水中针针放电时,单路和双路模块水间隙的预击穿时间与放电电压之间具有很大的随机性。单路模块预击穿时间的标准差最小为0.285 ms,最大为1.481 ms;而双路模块最小为0.369 ms,最大为0.703 ms。并且随着放电电压的增加,预击穿时间减小,双路模块的预击穿平均时间从放电电压为1300 V时的2.686 ms降到1800 V时的1.036 ms。 相似文献
5.
用磁控溅射法在Si(111)基片上以不同溅射功率沉积LaNiO3(LNO)薄膜,基片温度370℃,对沉积的薄膜样品进行快速热退火处理(500℃,10min)。使用电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)精确测量不同溅射功率沉积的LNO薄膜退火前后的组分情况。分析发现:LNO薄膜经退火处理后,其中的Ni/La的比值随着溅射功率增大而越接近理想比1:1,其导电性能也越好。另外,我们以相同工艺制备了不同厚度的LNO薄膜顶电极,四探针电阻测试仪和红外椭圆偏振光谱仪测试其电学与红外吸收性能,实验发现:(1)LNO薄膜的电阻率随膜厚的增加而降低,在大约300nm厚时略又有增加趋势;(2)LNO薄膜的红外吸收系数随其厚度的增加而增加,且随红外波长的增大而减小。 相似文献
6.
采用光抽运-太赫兹探测技术研究Cd0.96Zn0.04Te的载流子弛豫和瞬:态电导率特性.在中心波长800 nm的飞秒抽运光激发下,Cd0.96Zn0.04Te的载流子弛豫过程用单指数函数进行了拟合,其载流子弛豫时间长达几个纳秒,且在一定光激发载流子浓度范围内随光激发载流子浓度的增大而减小,这与电子-空穴对的辐射复合有关.在低.光激发载流子浓度(4.51×1016—1.81×1017 cm-3)下,Cd0.96Zn0.04Te的太赫兹(terahertz,THz)瞬态透射变化率不随光激发载流子浓度增大而变化,主要是由于陷阱填充效应造成的载流子损失与光激发新增的载流子数量近似.随着光激发载流子浓度继续增大(1.81×1017—1.44×1018 cm-3),THz瞬态透射变化率随光激发载流子浓度的增大而线性增大,是由于缺陷逐渐被... 相似文献
7.
本文采用透射式太赫兹时域光谱技术研究0.3—2.5 THz范围内本征GaSe,S掺杂质量分数为2.5%GaSe(GaSe:S(2.5%))和S掺杂质量分数为7%GaSe(GaSe:S(7%))晶体的电导率特性,并利用Drude-SmithLorentz模型对复电导率进行拟合.研究发现GaSe晶体的电导率实部随S掺杂浓度的增大而减小,主要是由于S掺杂使GaSe晶体的费米能级逐渐向电荷中性能级转移,载流子浓度下降引起的.本征GaSe和GaSe:S(2.5%)在约0.56 THz处有明显的晶格振动峰,而GaSe:S(7%)在0.56 THz附近无晶格振动峰,这主要是由于S掺杂提高了晶体的结构硬度,减弱了晶体的层间刚性振动.且3个样品均在约1.81 THz处存在明显的窄晶格振动峰,强度随S掺杂浓度的增大先减小再增大,主要是由于S掺杂降低了GaSe的局部结构缺陷,减弱了窄晶格振动峰强度,而过量的S掺杂生成β型GaS晶体,进而增加晶体的局部结构缺陷,窄晶格振动峰强度随之增强.GaSe晶体约在1.07 THz和2.28 THz处的宽晶格振动峰强度随S掺杂浓度的增大而减弱甚至消失,主要是由于S掺杂产生... 相似文献
8.
研究了基于InP基的In0.65Ga0.35As/In0.52Al0.48As赝型高迁移率晶体管材料中纵向磁电阻的Shubnikov-deHaas(SdH)振荡效应和霍耳效应,通过对纵向磁电阻SdH振荡的快速傅里叶变换分析,获得了各子带电子的浓度,并因此求得了各子带能级相对于费米能级的位置.联立求解Schrdinger方程和Poisson方程,自洽计算了样品的导带形状、载流子浓度分布以及各子带能级和费米能级位置.理论计算和实验结果很好符合.实验和理论计算均表明,势垒层的掺杂电子几乎全部转移到了量子阱中,转移率在95%以上. 相似文献
9.
10.