票证防伪检测仪的研究

针对有价证券防伪技术需求，采用国际新型高分辨率Si-PIN探测器研制了票证防伪检测仪，配置了多功能的检测软件系统。应用实践表明：它具有无损、快速、操作简便的特点，长期稳定性0.45%，能量分辨率为203eV/MnKα，尤其它能够将显性加密和隐性加密有机结合，提供了大众识别性和专业识别性的技术条件，具有广泛实用性和安全性。     

稀土分量的XRF法分析—熔珠粉末压薄片法

本法用50mg稀土氧化物样品,经四硼酸锂熔融后,粉碎压成薄片,以透空照射法,直接测定15项稀土分量和铀、钍。本法消除基体效应好,制样精度高,测定含量范围宽。     

钒钛磁铁矿样品主、次元素的快速分析方法研究

采用SI-PIN半导体探测器、241Am激发源和2048通道分析器及自行研制的SI-PIN 2000便携式X荧光分析仪,对钒钛磁铁矿直接粉末样品中Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu等8个主、次元素进行了分析应用研究。文章叙述了所采用的直接粉末样品法的样品盒结构、基体校正的α系数计算方法、重叠干扰校正原则和漂移校正的方法,并且给出了所选择的分析条件和样品制备方法,分析过程简单、结果准确、分析速度快,特别适应矿山、冶金的生产原料分析需要,有良好的应用前景, 与封闭正比计数器X射线荧光分析仪相比,检出限降低了1个数量级。     

地质试样中多种痕量元素的X射线荧光光谱分析

本文采用粉末压片的制样方法直接测定地质试样中26个痕量元素。采用散射内标及影响系数相结合的方法校正基体效应,方法操作简便,结果准确,可用于常规分析和化探测试工作.     

工业镀层及涂层厚度分析—同位素X射线荧光光谱法

采用自行研制的同位素Ｘ射线荧光分析仪，测定工业镀层和汽车涂层厚度，分析精度（ＲＳＤ）分别达２０％和３６％，该法具有快速、简便、无损等优点。