电导法测定非晶态氮化硅薄膜中的氮

非晶态氮化硅薄膜是一种半导体太阳能电池材料,薄膜材料的性能与其中氮和硅的原子比密切相关。因此在材料制备和性能研究中必需进行氮、硅含量的测定。薄膜中氮的测定国外有采用俄歇能谱或二次离子质谱等方法,国内尚未见有关氮化硅薄膜分析方法的报道。     

用地丹黄测定铸铁中镁的光电比色法

本文报告将地丹黄比色法应用於测定铸铁中之镁的试验结果.如将铁、锰、铝、矽等干扰物质预先除去,则镁的测定并无困难.依照本文所擬的方法分析,所需时间约为五小时,较重量法迅速得多.