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化学
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1987年
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1.
SIS的正电子湮没寿命谱的研究
秦安慰
陈晓禾
潘玉莲
邱励欧
《应用化学》
1987,(4):31-34
用正电子湮没技术,在-80°～100℃温度范围内,测量了苯乙烯-异戊二烯-苯乙烯三嵌段聚合物(SIS)的正电子寿命谱。在长寿命成分的温度谱中,实验发现除了有和聚异戊二乙烯及聚苯乙烯的玻璃化温度相对应的温度转变区外,在37℃还存在一个温度转变区。这个中间转变温度可以解释为SIS嵌段共聚物的中间相的玻璃化转变温度。
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