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1.
离子液体在导电高分子中的应用   总被引:1,自引:0,他引:1  
综述了离子液体作为介质,在导电高分子合成及其电化学性能测试,以及导电高分子电化学器件中(电化学电容、发光电化学池、驱动器、太阳能电池)的最新研究进展。在此基础上。展望了离子液体在导电高分子中的应用前景。  相似文献   
2.
软化学法低温合成银纳米线及其生长机制   总被引:10,自引:3,他引:10  
赵启涛  侯立松  黄瑞安 《化学学报》2003,61(10):1671-1674
以AgNO_3为起始物,采用DMF为溶剂和还原剂,无须采用晶种,在低温下 AgNO_3经DMF还原,通过软化学法合成了结构均匀的银纳米线,其直径为15-30nm, 长度高达20μm。通过引入乙酰丙酮,控制钛酸丁酯水解形成的多孔氧化物溶胶为 网络孔道结构,这种孔道结构为银纳米线的控制合成提供了有效的生长模板。  相似文献   
3.
ZnS nanorods were synthesized using solvothermal process with ethylenediamine as a bidentate ligand to form Zn^2 complexes and dodecylthiol providing an effective control over the crystal growth of ZnS nanorod. The microstructure of the nanorods was characterized by x-ray diffraction and transmission-electron microscopy. The optical properties of ZnS nanorods were examined by the photoluminescence spectrum.  相似文献   
4.
掺Sn的Ge2Sb2Te5相变存储薄膜的光学性质   总被引:3,自引:1,他引:2  
提高存储密度和存取速率一直是光存储发展的方向。这对目前用于可擦重写存储的相变材料提出了越来越多的要求:它们既要对短波长有足够的响应,同时其相变速度也越快越好。因此,相变材料性能的改进十分重要,掺杂是提高相变材料性能的重要手段之一。用直流溅射法制备了掺杂不同量Sn的Ge2Sb2Te5相变薄膜,由热处理前后薄膜的X射线衍射(XRD)发现:薄膜发生了从非晶态到晶态的相变。研究了薄膜在250—900nm区域的反射光谱和透射光谱。结果表明:适当的Sn掺杂能大大增加热处理前后材料在短波长(300—405nm)的反射率衬比度,可见,通过Sn掺杂改良相变材料的短波长光存储性能是一种有效的途径。  相似文献   
5.
To improve the optical storage performance, Sn was doped into Ge2Sb2Te5 phase change thin films. The optical and thermal properties of Sn-doped Ge2Sb2Te5 film were investigated. The crystal structures of the as-sputtered and the annealed films were identified by the X-ray diffraction (XRD) method. The differential scanning calorimeter (DSC) method is used to get the crystallization temperature and crystallization energy (Ea). It was found that proper Sn-doping could highly improve storage performance of the Ge2Sb2Te5 media.  相似文献   
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