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化学光谱法测定5N氧化钆中14个稀土杂质元素 总被引:2,自引:0,他引:2
报道了化学光谱法测定5N高纯氧化钆中14个稀土杂质元素,在P507萃淋树脂色层柱上分离氧化钆中稀土杂质元素,分别采用定量分离La-Sm及Tb-Lu+Y和部份分离Eu的方法,并相应地采用碳粉吸附法和碳粉粉末法进行光谱测定。分离时间为3.5h,测定下限为1.2μg/g(RE)。 相似文献
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目前,高纯氧化钇中稀土杂质的测定已有很多资料报导,但分析的灵敏度均不高,已发表的工作中大部分采用化学-光谱法或在气氛抑制氰带条件下测定高纯氧化钇中稀土杂质,但由于时间长,操作复杂,成本高等原因而限制了在某些单位的推广。我们对高纯氧化钇中稀土杂质的测定采用直流电弧粉末法,碳粉∶试样=1∶1,PGS-2平面光栅摄谱仪摄谱,灵敏度Nd、 相似文献
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化学光谱法测定6N氧化铕中14个稀土杂质元素 总被引:2,自引:2,他引:2
本文利用有铕易被还原的特性,将铕还原为二价进行预分离,继以P507萃淋树脂柱进行二次分离,光谱测定富集物中14个稀土杂质元素,本方法富集倍数高达20,000倍,化学光谱测定了下限为0.65μg/g(∑RE)可满足6氧化铕产品分析的要求。 相似文献
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文[5]以文[4]等为基础研究了 Dirichlet 级数在右半平面内的(R)级。文[6]进一步定义了零(R)级.文[7]又研究了准确零(R)级.本文在文[2]的基础上,引进 Laplace—Stieltjes 变换所定义的函数在收敛半平面零(R)级的概念,并得到了一些相应结果。考虑 Laplace—Stieltjes 变换所定义的函数 相似文献
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化学光谱法测定6N氧化铈中14个稀土杂质元素 总被引:2,自引:0,他引:2
提出了二次分离富集-发射光谱法测定高纯氧化铈中14个稀土杂质元素的方法。所建立的方法分离时间短,富集了倍数高,化学光谱测定下限为0.33μg/g,适用于6N的氧化铈中14个稀土杂质元素的测定。 相似文献
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