一种计算和测量X射线探测计数系统死时间的方法

Blackman 等人对死时间作过理论探讨,曾对两类不同的探测计数系统导出过几种校正公式.对于 X 射线仪器中常用的Ⅱ型探测计数系统,其校正公式为:     

X射线荧光分析单标样基本参数法的应用及其探讨

本文详细考察了各种基本参数(X光管的光谱强度分布除外)的不准确性对分析结果的影响程度。结果表明,单标样法对基本参数的不准确度具有明显的抵偿作用,目前的文献数据可以满足单标样法的要求。弄清了其抵偿机理,在计算程序的规格化步骤中引入系数K,改善了分析结果的准确度。分析黄铜和Fe-Cr-Ni合金中的六个成份,获得了令人满意的结果。