化学光谱法测定高纯水和高纯化学试剂中的杂质元素

采用挥发法分离主体,以溶液干渣化学光谱法测定了高纯水和高纯试剂中20余个杂质元素,测定下限在0.1—3ppb,变异系数在l1—27%范围内。本方法可用于高纯水和高纯试剂或MOS试剂中ppb级杂质元素的测定。     

杂质元素对光谱法测定锆铪混合氧化物中氧化锆和氧化铪的影响

锆、铪混合氧化物中氧化锆和氧化铪的测定有X荧光光谱法与压片-光谱法。压片法由于价廉而适用于工业控制分析。本工作研究了锆、铪冶炼中各种中间产品的杂质(10—50％)对压片法测定结果的影响,通过大量实验和多年的应用实践,证明试样中