质谱同位素稀释法测定U_3O_8标样中痕量Th

以~(230)Th作稀释剂用IDMS测定了U_3O_8标样中痕量Th。取样1g,先在9mol/l HCI体系中用阴离子交换法除去大量U及Fe、Pb等杂质,进而以CL5209型萃淋树脂分离Th。本法测Th的检出限为2.4×10~(-9)g。分析含Th 0.873 ppm 的U_3O_3试样时方法的精密度为±3.3%。     

同位素稀释质谱法测定U3O8中痕量Sm,Eu,Gd和Dy

建立了分析U_3O_8中痕量Sm、Eu、Gd和Dy的IDMS法。在一条灯丝上一次涂样完成4个相对含量10~(-8)的元素测定。方法较简便,测定含Sm、Eu、Gd和Dy分别为8.90×10~(-8)、9.07×10~(-8)、8.65×10~(-8)和8.47×10~(-8)的U_3O_8试样,方法精密度分别为±4.2%、±3.5%、±4.8%和±4.1%。本法与其他方法相比结果相符。测Gd,~(176)〔~(160)Dy~(16)O〕~+与~(176)〔~(160)Gd~(16)O〕~+有叠加。通过测定~(160)Dy~+峰高计算出~(176)〔~(160)Dy~(16)O〕~+峰高,从而校正~(176)〔~(160)Gd~(16)O〕~+峰高。