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恒电流电解—ICP-AES法同时测定高纯铜、铅中15种痕量杂质 总被引：2，自引：0，他引：2
本文提出用恒电流电解技术分离除去基体,JCP AES法同时测定高纯铜和高纯铅中的15种痕量杂质。方法对于基体的分离效率达99.9%以上,痕量杂质的标准加料回收率在87—106%之间。本法具有干扰小、准确度高、分析速度快、操作简便等优点。 相似文献
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