X射线衍射法定量分析蓝晶石样品

提出了应用X射线衍射法定量分析蓝晶石样品。将粒径10～15μm的蓝晶石粉末置于模具中,制成厚度为0.2mm的样片。取经提纯的蓝晶石和纯石英,按不同比例配成11个校准样品用于制作工作曲线,每一样品中加入相同量的刚玉作为内标以校正基体干扰。方法用于蓝晶石地质样品分析,所得测定结果与理论值相符。