颗粒内部的碘离子对碘溴化银微晶照相性能的影响

本文研究了用连体四角锥碘化银为晶核制备类似于四面体碘溴化银微晶和用六方角锥碘化银为晶核制备片状碘溴化银微晶的方法,并对两种不同微晶的结构,形态和性能进行了比较和分析.     

片状卤化银晶体的制备、结构与性能的研究——Ⅲ.碘离子分布对片状卤化银晶体光电性能的影响

本文制备了一系列结构不同的片状卤化银晶体,用扫描透射电子显微镜和X射线能谱仪相结合的方法对单个微晶进行了亚显微结构分析。半定量地测定了碘离子在不同结构的片状晶体中的分布,同时测量了各样品相应的介电损耗、Dember效应的光电压及高低照互易律失效。结果表明,在四种碘离子分布不同的片状卤化银晶体中,其微晶的离子电导率、高低照互易律失效、Dember效应的光电压衰减都随微晶中碘离子的分布不同而异,而且与乳剂的感光性能有很好的对应关系。     

卤化银微晶中掺杂的Ca离子对其性能的影响

本文研究了在卤化银微晶沉淀过程中不同量的Ca离子掺杂对其离子电导和照相性能的影响。掺杂Ca离子使卤化银乳剂的介电损耗曲线上的吸收峰向低频方向移动。相应卤化银乳剂的感光度也有一定程度的提高。     

片状卤化银晶体的制备、结构与性能的研究——Ⅱ.pAg对片状颗粒的尺寸、纵横比、碘离子分布及离子电导率的影响

本文研究了双注法制备片状卤化银微晶时,pAg值对所形成的卤化银片状颗粒的尺寸、纵横此、碘离子分布以及离子电导率的影响。随着pAg值的升高,片状颗粒的尺寸和纵横比都相应地增大和升高,且越来越多的碘离子从颗粒中心向外层迁移,直至到达表层,这说明存在晶体的重结晶过程。表面层的溴碘原子比是用X射线光电子能谱仪(XPS)测定的,并测量了不同pAg值下制备的不同尺寸的片状卤化银乳剂的介电损耗频谱。其结果表明,片状颗粒的尺寸影响其离子电导率,表层碘含量的影响不明显。     

片状多层结构卤化银微晶的制备、结构和性能的研究Ⅰ

本文利用可控双注法制备了一系列片状多导层结构Ag(Br,I)微晶,用扫描透射电镜(STEM)与X射线能谱仪(EDS)对单个微晶进行了微区分析,结果表明碘离子在微晶中的分布正如所设计的那样呈层状分布。EDS分析结果表明,富碘层的碘离子向无碘层迁移,且富碘层的碘浓度愈高,迁移的趋势愈大。并用介电损耗Dember效应、表面显影和化学成熟等方法研究了片状多层结构微晶的结构与性能的关系。     

片状卤化银晶体的制备、结构与性能的研究——碘离子在不同结构的片状卤化银晶体中的分布及其离子电导行为

本文制备了三种结构不同的片状卤化银晶体。用电子显微镜和X射线能谱仪相结合的方法,对单个晶体进行了微区微观结构分析,测定了碘离子在三种不同结构的片状颗粒中的分布,并测量了不同结构片状颗粒的和同一结构不同碘含量的片状颗粒的介电损耗。